Desktop SEM | Phenom Pharos | Thermo Fisher Scientific

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Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM은 탁상형 전계 방출 SEM입니다. Phenom Pharos G2 FEG-SEM은 이미지 품질 면에서 많은 바닥 스탠딩형 SEM을 능가하면서 훨씬 더 나은 사용자 경험을 제공합니다. 지금까지 SEM을 현실적인 옵션으로 고려하지 않았던 학술 및 산업 실험실에는 소형 크기와 짧은 트레이닝 덕분에 Phenom Pharos G2 FEG-SEM을 통해 FEG 성능을 이용할 수 있게 되었습니다. 빠른 시료 장착으로 신속한 시료 교환이 가능하며, 그 결과 높은 생산성을 제공합니다. 다른 SEM과 달리 Phenom Pharos G2 FEG-SEM은 이미징 및 분석 작업을 매우 빠르게 수행하여 워크업 툴 역할도 담당합니다.

새로운 Phenom Pharos G2 FEG-SEM은 가속 전압 범위를 1kV까지 확장하여 절연 및 빔에 민감한 시료를 더 잘 수용하며, 2.0 nm의 분해능과 함께 최대 20 kV까지 확대하여 가장 미세한 디테일을 보여줍니다.

주요 특징

고유한 전계 방출 소스

데스크탑 SEM 중에서도 특히 Phenom Pharos G2 FEG-SEM은 높은 휘도, 선명한 이미지 및 안정적인 빔 전류를 보장하는 전계 방출 소스를 제공합니다.

탁월한 분해능

Phenom Pharos G2 FEG-SEM은 20 kV에서 2.0 nm의 분해능을 제공합니다. 이러한 성능은 나노 입자의 형태, 코팅의 결함 또는 텅스텐 SEM이나 기타 탁상형 SEM에 의해 누락될 수 있는 그 밖의 특징을 보여줍니다.

부드러운 이미징

1 kV까지 전압 범위가 넓은 Phenom Pharos G2 FEG-SEM을 사용하면 코팅을 적용할 필요 없이 폴리머 및 절연 시료와 같은 빔에 민감한 시료를 이미징할 수 있습니다. 따라서 나노스케일 곡면 특징이 가려지지 않습니다.

생산성 증대

FEG SEM은 수용이 어렵고 조작하기 어렵다는 평판을 갖고 있지만, Phenom Pharos G2 FEG-SEM은 말 그대로 책상만 있으면 되고 1시간 내로 교육이 끝납니다. 마스터 학생, 방문자 또는 하이엔드 FEG SEM에 대한 교육을 받지 않은 기타 연구자들은 Phenom Pharos G2 FEG-SEM을 사용하여 시선을 사로잡는 이미지를 손쉽게 제작할 수 있습니다.

정보의 세계

Phenom Pharos G2 FEG-SEM에서는 SE, BSE 및 EDS 검출기가 내장된 덕분에 형태학적 정보가 조성 정보와 함께 획득됩니다. 온도 제어 또는 전기 실험을 위해 다양한 시료 홀더를 사용할 수 있습니다.

사양

재품 표 사항에 대한 스타일시트

분해능	20kV에서 2.0nm(SE), 3nm(BSE) 3kV에서 10nm(SE)
전자 광학 배율 범위	최대 2,000,000x
조명 광학 배율	27~160x
가속 전압	기본값: 5kV, 10kV 및 15kV 고급 모드: 1 kV~20 kV 조정 가능한 범위
진공 모드	고진공 모드 중간 진공 모드 통합 전하 감소 모드(저진공 모드)
검출기	후방 산란 전자 검출기(표준) 에너지 분산 X선 분광학(EDS) 검출기(옵션) 2차 전자 검출기(옵션)
시료 크기	최대 직경 25mm(32mm 선택 가능)
시료 높이	최대 35mm(100mm 선택 가능)

Style Sheet for Komodo Tabs

리소스

Uncoated insulators, such as this sea shell, can only be properly imaged at low acceleration voltage. At 2 kV (left image), significant charging artefacts can still be observed. At 1 kV (right image), those artifacts have disappeared.

이 조개껍데기와 같은 비코팅 절연체는 낮은 가속 전압에서만 적절하게 이미지화할 수 있습니다. 2kV(왼쪽 영상)에서는 여전히 커다란 충전 아티팩트가 관찰될 수 있습니다. 1kV(오른쪽 영상)에서 이러한 아티팩트가 사라졌습니다.

Sensitive materials require gentle conditions. With an acceleration voltage down to 1 kV, the Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM images beam-sensitive samples without sample coating or other sample preparation. Left: pharmaceutical powder, imaged without damage at 1 kV. Right: the same sample imaged at 5 kV, with damage, illustrating the need for low-kV imaging.

민감한 물질의 경우에는 조건을 조심스럽게 설정해야 합니다. 1kV까지 가속 전압을 낮추어 Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM은 샘플 코팅이나 기타 시료 전처리 없이 빔에 민감한 시료를 촬영합니다. 왼쪽: 의약품 분말, 1kV에서 손상 없이 영상화. 오른쪽: 5kV에서 손상된 동일한 샘플은 낮은 kV에서의 영상 촬영 필요를 보여줍니다.

은 나노구조

금 나노입자

CaCO3 분말(코팅)

코팅 폴리머 필름

폐 조직

Phenom 사용자 인터페이스

EDS 및 라이브 EDS

사례 연구

Phenom SEM을 통한 법의학 규조류학(diatomology) 관행 변경

데스크탑 SEM에 의한 오류 추적

도자기 바닥 타일 생산에 있어서의 데스크탑 SEM

데스크탑 SEM을 사용한 Newport Corporation의 초고속 포토닉스 연구

웨비나: 주사전자현미경: 귀사의 요구사항에 맞는 기술 선택

이 주문형 웨비나는 귀사의 고유한 요구 사항에 가장 적합한 SEM을 결정하는 데 도움이 되도록 고안되었습니다. 다중 사용자 연구 실험실을 위한 Thermo Fisher Scientific SEM 기술의 개요를 제시하고, 이러한 광범위한 솔루션이 성능, 다기능성, 현장(in situ) 동력학 및 더욱 빠른 결과를 제공하는 방법을 중점적으로 다룹니다. 다음 사항에 관심이 있는 경우, 이 웨비나를 시청하시기 바랍니다.