48ab - 응용분야/시료/제품/리소스/문의하기

핫 스테이지 현미경

실제 물질의 적용은 종종 고온을 포함한 다양한 환경 조건에서 이루어집니다. 가열된 물질이 재결정화, 용융 및 변형될 때 발생하는 반응은 제조 부품이 스트레스에 어떻게 반응할 수 있는지, 또는 생산 중 공급 재료가 어떻게 동작하는지와 같은 중요한 거시적 및 미시적 관찰 결과를 알려줍니다. 열에 대한 시료의 반응은 동적 프로세스이므로, 정확한 통찰력을 얻기 위해서는 동적 관찰과 결합해야 합니다. 전자 현미경의 최신 가열 스테이지에서는 가열된 물질에 대한 고분해능 관찰을 위한 현장(in situ) 실험을 가능하게 합니다. 이러한 까다로운 실험에서는 시료 형태, 환경 및 열역학을 연결할 수 있으며, 벌크 물질의 상응하는 거동을 제어하는 데 도움이 됩니다.

SEM 가열 단계

고온 환경에서 전자 현미경을 작동할 때는 온도 범위, 시료 크기, 화학 환경과 같은 많은 고려 사항이 있습니다. 다음 표는 Thermo Scientific 온도 스테이지를 이용해 가능한 기능을 보여 줍니다.

재품 표 사항에 대한 스타일시트

이름

애플리케이션

온도

최대 시료 크기

환경

고진공 가열 스테이지

범용 가열, 고분해능 이미지 생성, 컬럼 내 검출, 빠른 공정, 전자 후방 산란 회절(EBSD)

최대 1100°C

(EBSD 최대 900°C)

10 mm

고진공

환경 SEM(ESEM) 스테이지

기체 환경에서 가열: 산화 또는 기타 화학 반응

모델에 따라 최대 1000°C 또는 1400°C

5 mm

ESEM

µHeater

분말 가열, 청크 리프트아웃 연구(DualBeam), STEM 이미지 생성, 고온 EBSD 및 EDS, 10,000°C/s의 경사 속도

최대 1200°C

50µm

임의 환경

냉각 스테이지, WetSTEM

습도, 습윤 연구, 적절한 가열에 대한 정밀한 제어

-20°C~+60°C

3 mm

ESEM

Gold on a silicon substrate heated with a SEM hot stage.
실리콘 기판 상의 금(약 1080°C). 고진공 가열 스테이지를 사용하면 모든 렌즈 내 검출기와 이미징 모드를 사용하여 뛰어난 해상도와 대비로 시료를 촬영할 수 있습니다.

리소스

1030°C에서 가열된 자철석 및 적철석 나노입자 혼합물
후방 산란된 전자 이미지(왼쪽)와 동시에 획득된 철과 산소의 EDS 맵(오른쪽).

임플란트 재료의 질감 발달 온도가 700°C에서 1300°C로 상승할 때
완전히 다른 표면 구조를 관찰할 수 있습니다. 압력: 120 Pa.

고진공 가열 스테이지에서 700°C로 가열하는 동안 2상 Co-Sb 합금. 안티몬이 풍부한
상은 가열 중에 승화되어, 두 번째 상의 노출이 발생합니다.

1030°C에서 가열된 자철석 및 적철석 나노입자 혼합물
후방 산란된 전자 이미지(왼쪽)와 동시에 획득된 철과 산소의 EDS 맵(오른쪽).

임플란트 재료의 질감 발달 온도가 700°C에서 1300°C로 상승할 때
완전히 다른 표면 구조를 관찰할 수 있습니다. 압력: 120 Pa.

고진공 가열 스테이지에서 700°C로 가열하는 동안 2상 Co-Sb 합금. 안티몬이 풍부한
상은 가열 중에 승화되어, 두 번째 상의 노출이 발생합니다.

응용분야

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 


시료


배터리 연구

배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.

자세히 알아보기 ›


금속 연구

금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.

자세히 알아보기 ›


고분자 연구

고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.

자세히 알아보기 ›


나노입자

재료는 큰 규모 단위보다 나노 단위에서 근본적으로 다른 특성을 드러냅니다. 이를 연구하기 위해, S/TEM 기기를 에너지 분산형 X선 분광법과 결합하여 나노미터 미만의 분해능 데이터를 얻을 수 있습니다.

자세히 알아보기 ›


법의학

법의학 조사의 일환으로 전자현미경법을 사용하여 범죄 현장의 미세 증거를 분석하고 비교할 수 있습니다. 사용가능한 시료로는 유리 및 페인트 절편, 공구 마크, 약물, 폭발물 및 GSR(총격 잔류물) 등이 있습니다.

자세히 알아보기 ›


촉매 연구

촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.

자세히 알아보기 ›


자동차 재료 테스트

현대적인 차량의 모든 구성 요소는 안전성, 효율성 및 성능을 고려하여 설계됩니다. 전자현미경법 및 분광법에 의한 자동차 재료의 상세한 특성 분석을 통해 중요한 공정을 결정하고 제품을 개선하며 새로운 재료를 신속하게 식별할 수 있습니다.

자세히 알아보기 ›


섬유 및 필터

합성 섬유의 직경, 형태 및 밀도는 필터의 수명과 기능을 결정하는 데 있어 핵심 파라미터가 됩니다. 주사전자현미경(SEM)은 이러한 기능을 신속하고 용이하게 조사하는 데 있어 이상적인 기술입니다.

자세히 알아보기 ›


제품

Style Sheet for Komodo Tabs

Helios 5 DualBeam

  • 완전 자동 고품질 초박형 TEM 시료 준비
  • 높은 처리량의 고분해능 표면 및 3D 특성 분석
  • 고속 나노 프로토타입 제작 기능

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 갈륨 없이 STEM 및 TEM 시료 준비
  • 다중 모드 표면 하부 및 3D 정보
  • 차세대 2.5 μA 제논 플라즈마 FIB 컬럼

Axia ChemiSEM

  • 실시간 정량적 원소 맵핑
  • 높은 정확도의 주사전자현미경 이미징
  • 초보자도 사용가능한 유연성 및 사용 편의성
  • 간편한 유지관리

Apreo 2 SEM

  • 전방위적인 나노미터 미만 분해능을 위한 고성능 SEM
  • 민감하고 TV 속도 물질 대비를 위한 In-column T1 후방산란 검출기
  • 긴 작동 거리에서(10mm)에서 뛰어난 성능

PRISMA E SEM

  • 탁월한 이미지 품질의 초보 수준 SEM
  • 여러 시료를 신속하고 쉽게 로딩 및 탐색
  • 전용 진공 모드를 통해 광범위한 물질 사용 가능

Verios 5 XHR SEM

  • 1keV ~ 30keV의 전체 에너지 범위에 걸친 나노미터 미만 분해능을 위한 모노크로메이트 SEM
  • 최저 20eV까지 빔 랜딩 에너지에 쉽게 접근 가능
  • 표준으로 제공되는 피에조(piezo) 스테이지에 의한 뛰어난 안정성

Quattro ESEM

  • 고유한 환경 기능(ESEM)을 갖춘 다기능성 고분해능 FEG SEM
  • 모든 조작 모드에서 동시 SE 및 BSE 이미징을 통한 모든 시료의 모든 정보 관찰

Phenom ProX G6 데스크탑 SEM

  • EDS 통합 검출기를 갖춘 고성능 데스크탑 SEM
  • 분해능 <6nm(SE) 및 <8nm(BSE), 최대 350,000x 확대
  • SE 검출기 옵션

Phenom Pro G6 데스크탑 SEM

  • 고성능 데스크탑 SEM
  • 분해능 <6nm(SE) 및 <8nm(BSE), 최대 350,000x 확대
  • SE 검출기 옵션

Phenom Pure G6 데스크탑 SEM

  • 입문 수준 데스크탑 SEM
  • 분해능 <15nm, 최대 175,000x 확대
  • 수명이 긴 CeB6 소스
기기 카드 원본 스타일시트

em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

문의하기

Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards

재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.