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DPC 이미징
현대 전자 연구는 종종 전기 및 자기 속성의 나노 미터 단위의 특성 분석을 활용합니다. 차동 위상 대조 STEM(DPC-STEM)은 이러한 작업을 수행하는 데 사용되며, 시료 내/주변 자기장의 강도 및 분포도를 영상화하고 자기 영역 구조를 직접 표시할 수 있습니다. 이 기술이 매우 중요한 이유는, 데이터 저장 및 전자 장치에 사용되는 복잡한 재료를 직접 영상화할 수 있기 때문입니다.
차동 위상 대조 현미경
DPC-STEM은 다양한 연구 분야에서 활용됩니다. 스핀트로닉스 분야의 경우, 마이크로미터 미만 패턴의 자성 물질의 마이크로 자기 상태를 파악하는 것이 중요한 경우가 많습니다. 광전자 분야에서, 비대칭 물질의 양자 웰은 이러한 장치의 대역 구조를 수정하는 강력한 압전계를 발생시킵니다. 이러한 스핀트로닉스 및 광전자 물질은 특성 분석을 통해 DPC-STEM 고유의 기능을 완전히 이해할 필요가 있습니다.
이 기술은 단순히 자성 물질에만 국한되지 않습니다. 편광 물질과 필름은 전자 빔에 내재된 전기장을 포함하는 물질과 유사한 영향을 줍니다. DPC-STEM은 결합, 인터페이스 전체, 표면 상의 전하 분포에 대한 중요한 정보를 밝힐 수 있으며, 이를 통해 물질의 물리적 속성의 새로운 측면을 발견할 가능성이 있습니다.
DPC-STEM은 4-세그먼트 설계 (Panther) STEM Detector와 함께 Thermo Scientific Talos S/TEM 및 Spectra S/TEM 플랫폼에서 사용할 수 있습니다. 이 기기는 Thermo Scientific Velox Software와 결합되어 실시간 DPC 획득 옵션을 제공하며, 사용자 인터페이스에 완벽하게 통합됩니다.
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DPC-STEM은 자기(magnetic) 구조에서 자기장 방향에 대한 정량적 정보를 제공할 수 있습니다. 여기서는 hexaferrite 시료의 필드 방향이 색상환 표시로 나타납니다. 사례 제공: H. Nakajima and S. Mori, Osaka Prefecture University.
화살표 맵은 hexaferrite 시료에서 자기장의 강도와 방향을 나타냅니다. 사례 제공: H. Nakajima and S. Mori, Osaka Prefecture University.
DPC-STEM은 자기(magnetic) 구조에서 자기장 방향에 대한 정량적 정보를 제공할 수 있습니다. 여기서는 hexaferrite 시료의 필드 방향이 색상환 표시로 나타납니다. 사례 제공: H. Nakajima and S. Mori, Osaka Prefecture University.
화살표 맵은 hexaferrite 시료에서 자기장의 강도와 방향을 나타냅니다. 사례 제공: H. Nakajima and S. Mori, Osaka Prefecture University.
기초 재료 연구
새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.
기기 카드 원본 스타일시트
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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스
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