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차세대 Thermo Scientific Phenom XL G2 데스크탑 주사전자현미경(SEM)은 품질 관리 프로세스를 자동화하여 정확하고 재현성을 가진 결과를 제공하는 동시에, 부가 가치를 갖는 작업을 위한 시간을 확보할 수 있습니다. 

수동의 반복적인 작업을 제거하는 직관적이고 자동화된 솔루션을 통해 품질 표준을 충족시키십시오.

  • 오류를 조기에 발견하고 필요시 생산 프로세스를 신속하게 조정하기 위해 필요한 품질 정보를 얻을 수 있습니다.
  • 인적 오류 발생 가능성을 줄이는 동시에 큰 부피의 시료를 처리하기 위해 고품질 제어를 자동화합니다.
  • 광범위한 응용 분야에 이상적이고 배우기 쉬우며 완전히 새로운 인터페이스를 통해 빠른 속도를 구현하십시오.

Phenom XL G2 데스크탑 SEM은 60초의 평균 이미지 생성 시간과 함께 전체 화면 이미지를 제공합니다. 고유한 CeB6 전자 소스는 저렴한 유지보수 비용으로 긴 수명을 구현합니다. 소형 형태 인자(form factor)는 작은 실험실 공간만을 필요로 하기 때문에, 현미경을 필요한 곳에 정확하게 배치할 수 있습니다.

 

Download Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM Datasheet

주요 특징

자동화

 Phenom XL G2 데스크탑 SEM은 Phenom Programming Interface(PPI)를 통해 표준적으로 접근가능하며, PPI는   Python 스크립팅을 통해 Phenom XL G2 데스크탑 SEM을 제어하는 강력한 방법입니다. 입자, 구멍, 섬유 또는 대형 SEM 이미지를 분석하기 위한 반복 작업을 수행하는 SEM 워크플로우가 있는 경우, 해당  기기가 자동으로 그것을 수행할 수 있습니다. 

수명이 긴 CeB6  소스

수명이 긴 CeB6(cerium hexaboride) 소스에는 몇 가지 장점이 있습니다. 첫째, 텅스텐과 비교해 고휘도를 제공하며, 많은 사용자가 보다 쉽게 고품질의 이미지를 얻을 수 있게 해줍니다. 둘째, 소스의 수명이 매우 길고 유지 보수 일정을 예약하는 것이 가능합니다. 

유센트릭(eucentric) 시료 홀더

많은 SEM 응용 분야에서 사용자는 시료를 기울이고 회전시킬 수 있으면 시료 속성을 더욱 잘 파악할 수 있습니다. 옵션으로 제공되는 유센트릭 시료 홀더를  사용하면 유센트릭 경사 및 회전을 가능하게 함으로써 연구 및 분석이 더욱 빠르고 정확해집니다. 

원소 식별(EID)

옵션으로 제공되는 에너지 분산형 X선 분광학(EDS) 검출기를  Phenom XL G2 데스크탑 SEM에 장착하여, X선 분석에 의한 원소 식별을 통해 더 많은 물질에 대한 유용한 정보를 얻을 수 있습니다. 

단계별 데이터 수집

전용 소프트웨어 패키지  원소 식별 소프트웨어 패키지(EID)는 완전히 통합된 EDS 검출기를 제어하는 데 사용됩니다. 사용자는 EID 소프트웨어 내 직관적인 단계별 프로세스를 통해 조직적이며 체계적인 방식으로 모든 X선 결과를 수집할 수 있습니다.

사양

재품 표 사항에 대한 스타일시트
전자 광학
  • 수명이 긴 열 이온 소스(CeB6 )
  • 다중 빔 전류
전자 광학 배율 범위
  • 160~200,000x
조명 광학 배율
  • 3~16x
분해능
  • <10nm
이미지 분해능 옵션
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 및 7680 x 4800 픽셀
가속 전압
  • 기본값: 5kV, 10kV 및 15kV
  • 고급 모드: 4.8kV ~ 20.5kV 사이의 조정 가능한 범위 이미징 및 분석 모드
진공 수준
  • 낮음 - 중간 - 높음
검출기
  • 후방 산란 전자 검출기(표준)
  • 2차 전자 검출기(옵션)
  • 에너지 분산 X선 분광학(EDS) 검출기(옵션)
시료 크기
  • 최대 100mm x 100mm(최대 36 x 12mm 핀 스터브)
  • 최대 40 mm(h)
시료 로딩 시간
  • 조명 광학< 5초 
  • 전자 광학< 60초
Style Sheet for Komodo Tabs

리소스

웨비나:  품질 관리 자동화하기

이 주문형 웨비나에서는 차세대 자동 데스크탑 분석을 통해 품질 관리 프로세스를 개선하는 방법에 대해 설명합니다.  웨비나 시청을 통해 다음과 같은 방법을 배울 수 있습니다.

  • 오류를 조기에 발견하고 필요시 생산 프로세스를 신속하게 조정하기 위해 필요한 품질 정보를 얻을 수 있습니다.
  • 인적 오류 발생 가능성을 줄이는 동시에 큰 부피의 시료를 처리하기 위해 고품질 제어를 자동화합니다. (필요에 따른 맞춤형 솔루션 및 표준 솔루션을 모두 갖추고 있습니다.)
  • 광범위한 응용 분야에 이상적이고 배우기 쉬우며 완전히 새로운 인터페이스를 통해 빠른 속도를 구현하십시오.

웨비나: 주사전자현미경: 귀사의 요구사항에 맞는 기술 선택

이 주문형 웨비나는 귀사의 고유한 요구 사항에 가장 적합한 SEM을 결정하는 데 도움이 되도록 고안되었습니다. 다중 사용자 연구 실험실을 위한 Thermo Fisher Scientific SEM 기술의 개요를 제시하고, 이러한 광범위한 솔루션이 성능, 다기능성, 현장(in situ) 동력학 및 더욱 빠른 결과를 제공하는 방법을 중점적으로 다룹니다. 다음 사항에 관심이 있는 경우, 이 웨비나를 시청하시기 바랍니다.

  • 다양한 미세 분석 양상에 대한 요구사항을 충족시키는 방법(EDX, EBSD, WDS, CL 등).
  • 시료 전처리없이 시료를 자연 상태로 특성 분석하는 방법.
  • 새로운 고급 자동화를 통해 연구원이 시간을 절약하고 생산성을 높일 수 있는 방법.

웨비나:  품질 관리 자동화하기

이 주문형 웨비나에서는 차세대 자동 데스크탑 분석을 통해 품질 관리 프로세스를 개선하는 방법에 대해 설명합니다.  웨비나 시청을 통해 다음과 같은 방법을 배울 수 있습니다.

  • 오류를 조기에 발견하고 필요시 생산 프로세스를 신속하게 조정하기 위해 필요한 품질 정보를 얻을 수 있습니다.
  • 인적 오류 발생 가능성을 줄이는 동시에 큰 부피의 시료를 처리하기 위해 고품질 제어를 자동화합니다. (필요에 따른 맞춤형 솔루션 및 표준 솔루션을 모두 갖추고 있습니다.)
  • 광범위한 응용 분야에 이상적이고 배우기 쉬우며 완전히 새로운 인터페이스를 통해 빠른 속도를 구현하십시오.

웨비나: 주사전자현미경: 귀사의 요구사항에 맞는 기술 선택

이 주문형 웨비나는 귀사의 고유한 요구 사항에 가장 적합한 SEM을 결정하는 데 도움이 되도록 고안되었습니다. 다중 사용자 연구 실험실을 위한 Thermo Fisher Scientific SEM 기술의 개요를 제시하고, 이러한 광범위한 솔루션이 성능, 다기능성, 현장(in situ) 동력학 및 더욱 빠른 결과를 제공하는 방법을 중점적으로 다룹니다. 다음 사항에 관심이 있는 경우, 이 웨비나를 시청하시기 바랍니다.

  • 다양한 미세 분석 양상에 대한 요구사항을 충족시키는 방법(EDX, EBSD, WDS, CL 등).
  • 시료 전처리없이 시료를 자연 상태로 특성 분석하는 방법.
  • 새로운 고급 자동화를 통해 연구원이 시간을 절약하고 생산성을 높일 수 있는 방법.

응용분야

전자현미경을 사용한 공정 제어

전자현미경을 사용한 공정 제어

오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.

 

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.

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기초 재료 연구

새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

 

부품 청결도 검사 중에 SEM에 의해 발견된 알루미늄 미네랄 입자

기술적 청결도

그 어느 때보다 오늘날의 제조업계는 신뢰할 수 있는 고품질 부품을 필요로 합니다. 주사전자현미경을 이용해, 내부에서 광범위한 분석 데이터를 제공하고 생산 주기를 단축시킬 수 있는 부품 청결도 분석을 수행할 수 있습니다.


기술

EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

자세히 알아보기 ›

3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

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멀티스케일 분석

새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.

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EDS 원소 분석

EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

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3D EDS 단층 촬영

오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.

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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

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멀티스케일 분석

새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.

Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards