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주사전자현미경(SEM)은 3D 구조의 고품질 표면과 단면 영상을 제공합니다. 소비자와 산업계의 요구에 따라 반도체의 크기가 계속 감소함에 따라, 나노스케일 계측은 공정과 소자 설계 수율에 점점 더 중요한 요소가 되고 있습니다. 중요한 치수의 정확하고 반복 가능한 나노스케일 측정을 위해서는 고해상도 SEM 이미징과 매우 정확한 배율 보정이 필요합니다.
Thermo Fisher Scientific에서 제공하는 초고분해능 자동 SEM 기능을 업계 최고의 소프트웨어 솔루션과 함께 사용하여, 주요 메모리 및 로직 고객의 문제를 해결하는 데 필요한 자동화, 정밀도, 견고함을 갖춘 이미징과 계측을 수행할 수 있습니다. NIST-추적가능 보정 표준, 발전된 이미징 자동화(단면 및 top-down 모두), 차세대 머신 러닝 지원 계측 기능을 활용하는 Thermo Scientific 자동 SEM은 직접 공정과 장치 모니터링을 위한 경제적인 3D 계측을 제공하며 시장 출시 기간도 단축시킵니다.
Thermo Fisher Scientific은 top-down SEM 계측을 위해 Thermo Scientific AutoSEM 소프트웨어를 사용하는 Thermo Scientific Verios 5 SEM 등 중요한 치수 분석을 위한 다양한 SEM 계측 도구를 제공합니다. 자세한 정보를 보려거나 데모를 요청하시려면 아래의 해당 제품 페이지를 클릭하십시오.
고성능 반도체 장치의 제조에 필요한 실행 가능한 솔루션과 설계 방법을 확인하기 위한 고급 전자 현미경 검사, 집속 이온빔 및 관련 분석 기법.
지속적인 소비자 수요는 더 작고 빠르며 저렴한 전자 장치를 만들도록 촉진합니다. 그 생산은 광범위한 반도체 및 디스플레이 장치를 이미지화, 분석 및 특성 분석하는 고생산성 기기 및 워크플로우에 의존합니다.
당사에서는 다양한 반도체 응용 분야와 장치의 생산성을 높이고 수율을 높일 수 있도록 설계된 결함 분석, 계측 및 공정 관리를 위한 고급 분석 기능을 제공합니다.
반도체 장치 구조가 점점 복잡해짐에 따라 숨겨진 장애 유발 결함이 더 많아지고 있습니다. 당사의 차세대 워크플로우는 사용자가 수율, 성능, 신뢰성에 영향을 미치는 미세한 전기 문제를 로컬화하고 특성을 분석하는 데 도움을 줍니다.
전력 장치는 주로 전력 장치 아키텍쳐 및 레이아웃의 결과로서 오류를 국지화를 위한 고유한 과제를 제기합니다. 저희의 전력 장치 분석 도구와 워크플로우는 작동 조건에서 오류 위치를 빠르게 찾고 물질 특성 분석, 인터페이스, 장치 구조에 대한 정밀하고 고처리량의 분석을 제공합니다.
디스플레이 기술의 진화를 통해 디스플레이 품질 및 광변환 효율성을 개선하여 다양한 산업 부문의 응용분야를 지원하는 동시에 생산 비용을 지속적으로 절감할 수 있습니다. 당사의 공정 계측, 고장 분석, 연구 및 개발 솔루션은 디스플레이 기업의 이러한 문제를 해결하는 데 도움을 줍니다.
반도체 장치가 축소되고 복잡해짐에 따라 새로운 설계와 구조를 필요로 하게 되었습니다. 고생산성의 3D 분석 워크플로우는 장치 개발 시간을 단축하고 수율을 극대화할 수 있으며, 장치가 산업의 향후 요구 사항에 부합되도록 보장합니다.