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Materials characterization
Advanced materials characterization labs require access to the latest techniques and will push analytical tools, including SEMs, to the extremes of their capabilities. Most of these labs are multi-user facilities that accommodate users with varying degrees of experience. Time on the microscope is precious, and excessive time spent on maintenance, alignments, training, or image optimization needs to be avoided.
Apreo 2 Scanning Electron Microscope
The new Thermo Scientific Apreo 2 SEM expands access to high-performance imaging and analytics to all levels of microscopy expertise. With Thermo Scientific ChemiSEM Technology, a unique live elemental imaging capability, compositional information is always available, through the most intuitive interface. Eliminating all the hassle associated with typical EDS implementations, ChemiSEM Technology offers unprecedented time to result and ease of use.
The Apreo 2 SEM poses much smaller demands on users and lab managers with Thermo Scientific SmartAlign Technology, an optics system that aligns itself. Furthermore, the Apreo 2 SEM automates the image fine-tuning process with Thermo Scientific FLASH technology. FLASH Technology executes any necessary corrections to lens centering, the stigmators, and final focus of the image. The combination of these technologies means that users new to electron microscopy can access the high-end performance of the Apreo 2 SEM. Additionally, the Apreo 2 SEM is the only SEM with a 1-nanometer resolution at 10 mm analytical working distance. No longer does long working distance mean poor imaging. With the Apreo 2 SEM, anyone will be able to confidently get great results.
Apreo 2 SEM video teaser
High performance, resolution, and contrast
The combination of advanced optics, detection and automation in Apreo 2 makes obtaining high resolution imaging possible even for users new to SEM.
Wide range of sample types
Apreo 2 was designed for maximum flexibility. High quality, high resolution imaging is possible regardless of target samples properties. Insulators, beam sensitive or magnetic materials can all be imaged with ease thanks to Apreo 2's unique optics, detection and beam control options.
Click image to enlarge
Live quantitative EDS with ChemiSEM
Elemental information at your fingertips with ChemiSEM, which provides live quantitative elemental mapping for unprecedented time to result and ease of use.
Quick and easy sample loading
Easy access to the stage, a convenient multi-sample holder, and a fast pump down ensures no time is wasted loading samples. An automated routine to insert and remove a pressure limiting aperture (PLA) allows for a seamless switch between high and low vacuum without opening the chamber.
Advanced automation
From optics, to image acquisition, Apreo 2 provides a range of automated features to make imaging time as effective and efficient as possible. Flash Technology automates image fine tuning The unique Undo function permits efficient exploration of imaging conditions Thermo Scientific Maps software automates large area acquisition with up to 4 different simultaneous signals
Performance at long working distance
Apreo 2 is the only SEM that offers high-resolution performance (1nm) and excellent image quality at analytical working distance (10mm). Sample morphology, topography and surface information can all be simultaneously explored while being at a safe distance from the pole piece. Thanks to its high-speed and high-sensitivity in-lens backscattered detector, BSE are still detected even at extremely low beam currents (as low as few pA).
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
Apreo 2 S | Apreo 2 C | |
Resolution |
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Standard detectors |
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PivotBeam |
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Optional detectors |
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ChemiSEM Technology (optional) |
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Landing energy range |
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Stage bias (beam deceleration) |
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Low vacuum mode |
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Stage |
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Maximum beam current |
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Standard sample holder |
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Chamber |
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Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Komodo Tabs
Long working distance imaging on palladium nanoparticles on cerium oxide matrix.
Easy nanoparticles imaging at 10 mm working distance.
Highlight contrast that would otherwise go unnoticed
High material contrast and easy platinum nanoparticles imaging at 10 mm working.
This video demonstrates how Apreo's Trinity detection system quickly answers all our questions about a sample.
On-demand webinar: Introduction to Apreo 2 - Unmatched versatility powered by ChemiSEM Technology
This is an introduction on-demand webinar to be followed by a more extensive overview of the Apreo 2 SEM, its features, functionalities, ChemiSEM technology, and a demonstration of the Apreo 2 in action. Attend this on-demand webinar to:
- Learn about the latest in analytical UHR-SEM from Thermo Fisher Scientific.
- Get introduced to the Apreo 2 SEM.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Ag particles on silica
Palladium nanoparticles imaged with ChemiSEM. Frame time: 30 seconds.
Lithium ion cathode precursor
A silver-copper mix imaged on Apreo 2 with ChemiSEM technology in less than a minute and a half.
Au/Pd nanoparticle on TiO2 support. Within a 1-minute frame time, ChemiSEM technology maps the composition, even on nanoparticle feature sizes.
Blend of polystyrene and polyacrylic acid polymers
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 1kV.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 2kV, Mix detector.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 5kV, LVD detector.
Semiconductor bond wire in mod compound taken on Apreo at 1kV.
Aluminum Tin alloy after heating
Ceramic heating stage imaged with ChemiSEM Technology
Dental amalgam imaged with ChemiSEM Technology. The dental amalgam is a filler rich in mercury and a metal alloy mixture of silver, tin and copper.
Diatoms
Gold nanocubes
Gold palladium particle on titania
Iron Oxide
Mushroom Spores
Nanoporous gold
Pollen
Polymer battery separator
Rene N5 superalloy for turbine blades. Cross section of a thermally cycled part showing the presence of oxide intrusions from the surface
Silicon graphite battery anode imaged with ChemiSEM Technology. The image shows the distribution of the silicon and carbon in the area of interest and highlight the presence of a nickel-rich contaminant.
ChemiSEM image of a cross section of an electrode active material showing the presence of zirconium-rich impurities and the distribution of the fluorine-rich binder.
Calcium carbonate particles (rod-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 1 keV
Calcium carbonate particles (spindle-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 500 V using beam deceleration
Bright field (BF) STEM image of bamboo-like carbon nanotubes with iron nanoparticles
Bright field (BF) and high angle annular dark field (HAADF) STEM images of MikNo zinc oxide platelets
MicNo® ZnO platelets (Entekno Materials) made of zinc oxide nanoparticles. Images have been taken with an acceleration voltage of 1 keV
Long working distance imaging on palladium nanoparticles on cerium oxide matrix.
Easy nanoparticles imaging at 10 mm working distance.
Highlight contrast that would otherwise go unnoticed
High material contrast and easy platinum nanoparticles imaging at 10 mm working.
This video demonstrates how Apreo's Trinity detection system quickly answers all our questions about a sample.
On-demand webinar: Introduction to Apreo 2 - Unmatched versatility powered by ChemiSEM Technology
This is an introduction on-demand webinar to be followed by a more extensive overview of the Apreo 2 SEM, its features, functionalities, ChemiSEM technology, and a demonstration of the Apreo 2 in action. Attend this on-demand webinar to:
- Learn about the latest in analytical UHR-SEM from Thermo Fisher Scientific.
- Get introduced to the Apreo 2 SEM.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Ag particles on silica
Palladium nanoparticles imaged with ChemiSEM. Frame time: 30 seconds.
Lithium ion cathode precursor
A silver-copper mix imaged on Apreo 2 with ChemiSEM technology in less than a minute and a half.
Au/Pd nanoparticle on TiO2 support. Within a 1-minute frame time, ChemiSEM technology maps the composition, even on nanoparticle feature sizes.
Blend of polystyrene and polyacrylic acid polymers
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 1kV.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 2kV, Mix detector.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 5kV, LVD detector.
Semiconductor bond wire in mod compound taken on Apreo at 1kV.
Aluminum Tin alloy after heating
Ceramic heating stage imaged with ChemiSEM Technology
Dental amalgam imaged with ChemiSEM Technology. The dental amalgam is a filler rich in mercury and a metal alloy mixture of silver, tin and copper.
Diatoms
Gold nanocubes
Gold palladium particle on titania
Iron Oxide
Mushroom Spores
Nanoporous gold
Pollen
Polymer battery separator
Rene N5 superalloy for turbine blades. Cross section of a thermally cycled part showing the presence of oxide intrusions from the surface
Silicon graphite battery anode imaged with ChemiSEM Technology. The image shows the distribution of the silicon and carbon in the area of interest and highlight the presence of a nickel-rich contaminant.
ChemiSEM image of a cross section of an electrode active material showing the presence of zirconium-rich impurities and the distribution of the fluorine-rich binder.
Calcium carbonate particles (rod-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 1 keV
Calcium carbonate particles (spindle-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 500 V using beam deceleration
Bright field (BF) STEM image of bamboo-like carbon nanotubes with iron nanoparticles
Bright field (BF) and high angle annular dark field (HAADF) STEM images of MikNo zinc oxide platelets
MicNo® ZnO platelets (Entekno Materials) made of zinc oxide nanoparticles. Images have been taken with an acceleration voltage of 1 keV
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Desenvolvimento e localização de semicondutores
Microscopia eletrônica avançada, feixe de íon focalizado e técnicas analíticas associadas para identificar soluções viáveis e métodos de desenho para a fabricação de dispositivos semicondutores de alto desempenho.
Rampa de escoamento e metrologia
Oferecemos recursos analíticos avançados para análise de defeitos, metrologia e controle de processos projetados para ajudar a aumentar a produtividade e melhorar o rendimento em uma variedade de aplicações e dispositivos semicondutores.
Análise de falha de semicondutores
Estruturas de dispositivos semicondutores cada vez mais complexas resultam em mais locais onde defeitos que induzem falhas podem se ocultar. Nossos fluxos de trabalho de última geração o ajudam a localizar e caracterizar problemas elétricos sutis que afetam o rendimento, o desempenho e a confiabilidade.
Caracterização física e química
A demanda contínua dos consumidores impulsiona a criação de dispositivos eletrônicos menores, mais rápidos e mais baratos. Sua produção depende de instrumentos e fluxos de trabalho de alta produtividade que fazem imagens, analisam e caracterizam uma ampla gama de semicondutores e dispositivos de exibição.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
Geração de imagens de amostras quentes
O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.
Catodoluminescência
A catodoluminescência (CL) descreve a emissão de luz de um material quando ele é excitado por um feixe de elétrons. Este sinal, captado por um detector CL especializado, carrega informações sobre a composição da amostra, defeitos de cristal ou propriedades fotônicas.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Análise e geração de imagens de semicondutores
A Thermo Fisher Scientific oferece microscópios eletrônicos de varredura para todas as funções de um laboratório de semicondutores, desde tarefas gerais de aquisição de imagens até técnicas avançadas de análise de falhas que exigem medições precisas de contraste de tensão.
ColorSEM
Usando a EDS (espectroscopia de raios X por energia dispersiva) com quantificação ao vivo, a tecnologia ColorSEM transforma as imagens SEM em uma técnica colorida. Agora, qualquer usuário pode adquirir dados elementares continuamente para obter informações mais completas do que nunca.
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
Geração de imagens de amostras quentes
O estudo de materiais em condições reais muitas vezes envolve trabalhar em altas temperaturas. O comportamento dos materiais à medida que eles se recristalizam, derretem, deformam ou reagem na presença de calor pode ser estudado in situ com microscopia eletrônica de varredura ou ferramentas DualBeam.
Catodoluminescência
A catodoluminescência (CL) descreve a emissão de luz de um material quando ele é excitado por um feixe de elétrons. Este sinal, captado por um detector CL especializado, carrega informações sobre a composição da amostra, defeitos de cristal ou propriedades fotônicas.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Análise e geração de imagens de semicondutores
A Thermo Fisher Scientific oferece microscópios eletrônicos de varredura para todas as funções de um laboratório de semicondutores, desde tarefas gerais de aquisição de imagens até técnicas avançadas de análise de falhas que exigem medições precisas de contraste de tensão.
Serviços de microscopia eletrônica
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
Suporte e recursos para microscopia eletrônica
Folha de estilo para Rodapé de suporte e serviço
Folha de estilo para Fontes
Folha de estilo para Cartões