48ab - 应用/样品/产品/资源/联系人

半导体结构的持续小型化意味着需要高精度的电路编辑和纳米原型设计工具来可靠、一致地生产出符合要求的新型器件,从而缩短上市时间。这至关重要,因为如果错过新技术的机会窗口甚至落后,会导致极高的潜在成本。

使用正确的工具、电路编辑和纳米原型设计,工作流程和技术可以帮助公司确保设计成功,减少设计返工的次数(从而节省成本和时间),并最终确保上市时间。例如,精准聚焦离子束 (FIB) 编辑工具可使您进行显微外科手术和新电路设计的纳米原型设计,帮助您确认首个硅片上的设计变更,而无需等待设计返工。

利用 Thermo Scientific Centrios 电路编辑系统,您可以通过在 14 nm 及更高制程下执行电路编辑和快速原型设计来节省时间并确保设计成功。该工具专为现代快速 消费者驱动的移动技术世界而设计,并可进行新设计的快速原型设计以及测试和评估。浏览以下 Centrios 产品页面了解更多信息

电路编辑和纳米原型设计工作流程

 

 

相关资源


应用

半导体寻路

半导体探索和开发

先进的电子显微镜、聚焦离子束和相关半导体分析技术可用于识别制造高性能半导体器件的可行解决方案和设计方法。

半导体良率提升和计量

良率提升和计量

我们为缺陷分析、计量学和工艺控制提供先进的分析功能,旨在帮助提高生产率并改善一系列半导体应用和设备的产量。

电源半导体设备分析

电源半导体设备分析

电源设备让定位故障面临独特的挑战,主要是由于电源设备结构和布局。我们的电源设备分析工具和工作流程可在工作条件下快速实现故障定位并提供精确、高通量的分析,以便表征材料、接口和设备结构。


样品


半导体材料和器件表征

随着半导体器件的缩小和变得越来越复杂,半导体产品需要新的设计和结构。高效的 3D 分析工作流程可以缩短器件开发时间,最大程度提高产量,并确保器件符合行业未来需求。

了解更多 ›

Style Sheet for Komodo Tabs
用于将 H2 样式更改为具有 em-h2-header 类 p 的样式表

产品

仪器卡片原件样式表

Taipan G2+ 电路编辑系统

  • 符合 10nm 节点规格的成像和减薄分辨率
  • 对导体和绝缘体具有极佳的蚀刻选择性和沉积控制
  • 出色的导航和离子束放置准确度

Centrios CE

  • 卓越的图像/减薄分辨率
  • 增强的减薄精度和控制
  • 基于 Thermo Scientific Helios DualBeam 平台构建

联系我们

支持和服务页脚样式表
字体样式表
卡片样式表

用于材料科学的
半导体

为实现理想的系统性能,我们为您提供了由现场服务专家、技术支持部门和认证备件组成的全球网络支持。

了解更多 ›