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次世代のThermo Scientific Phenom XL G2卓上走査型電子顕微鏡（SEM）は品質管理プロセスを自動化し、正確で再現性のある結果を提供すると同時に、付加価値のある作業に時間をかけることができます。
手動での繰り返し作業を排除する直感的な自動化ソリューションにより、品質管理に最適。
- 不具合を素早く発見するために必要な品質管理の情報を取得し、生産工程の調整を迅速に行えます。
- 品質管理を自動化して、人為的ミスの可能性を減らし、大量の試料を処理します。
- さまざまなアプリケーションに最適な、まったく新しい学習しやすいインターフェースで、スピーディに作業を開始可能。
卓上SEM Phenom XL G2は、大画面フルスクリーンと60秒の画像取得時間を特徴としています。独自のCeB6電子銃は、長寿命を実現しており、メンテナンスが少なくて済みます。コンパクトでラボスペースをほとんど必要とせず、必要な場所へ正確に顕微鏡を設置できます。
Download Phenom XL G2 Argon-Compatible Desktop SEM Datasheet
自動化
卓上SEM Phenom XL G2は、フェノムプログラミングインターフェース（PPI）を介して標準でアクセスが可能です。これは、Python Scriptを介してPhenom XL G2卓上SEMを制御できる強力な機能です。粒子、細孔、繊維、または広範囲SEM像の分析で、ユーザーが繰り返し作業を伴うSEMのワークフローがある場合、本装置はそれを自動で行うことができます。
長寿命のCeB₆電子銃
長寿命のCeB₆（六ホウ化セリウム）電子銃にはいくつかの利点があります。第一に、タングステンよりも高い輝度を実現しているので、多くのユーザーが、多数の詳細情報を含んだ高品質の画像を簡単に取得できます。次に、電子銃の寿命が非常に長く、計画的にメンテナンスできます。
ユーセントリック試料ホルダ
多くのSEMアプリケーションで、サンプルを傾けたり回転させることができれば、ユーザーは試料の特性をより詳細に把握できます。オプションのユーセントリック試料ホルダは、ユーセントリックに傾斜と回転を可能にし、研究と分析をより迅速かつ正確にします。
元素分析ソフトウェア（EID）
卓上SEM Phenom XL G2には、オプションのエネルギー分散型X線分析装置（EDS）を装備でき、X線分析による元素同定により、より多くの材料に関する知見を得ることができます。
段階的なデータ収集
専用のソフトウェアパッケージである元素分析ソフトウェアパッケージ（EID）を使用することで、EDS検出器を完全に制御します。EIDソフトウェア内の使いやすい段階的プロセスにより、ユーザーが、すべてのX線による結果を体系的かつ構造的に収集するのに役立ちます。
工業生産製品選択ツール
製品セレクターは、お客様の研究に最適な走査型電子顕微鏡（SEM）システムとソフトウェアを選択するのに役立ちます。お客様の研究用途に最適なSEMが、数分で見つかります。
Style Sheet for Products Table Specifications
| 電子光学系 |
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| 電子顕微鏡倍率 |
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| 光学ナビゲーション倍率 |
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| 分解能 |
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| 画像解像度 |
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| 加速電圧 |
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| 真空度 |
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| 検出器 |
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| 試料サイズ |
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| 試料の導入時間 |
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Style Sheet for Media Tabs
e-learning：品質管理の自動化
このオンデマンドe-learningでは、次世代の自動デスクトップ分析を使用して品質管理プロセスを改善する方法をご紹介します。e-learningを視聴することで、以下のことができるようになります。
- 不具合を素早く発見するために必要な品質管理の情報を取得し、生産工程の調整を迅速に行えます。
- 品質管理を自動化して、人為的ミスの可能性を減らし、大量の試料を処理します。（ニーズに応じて、カスタマイズされたソリューションと標準的ソリューションの両方をご用意しています。）
- さまざまなアプリケーションに最適な、まったく新しい学習しやすいインターフェースで、スピーディに作業を開始可能。
e-learning：走査型電子顕微鏡：お客様のニーズに合った適切な技術を選択します
このオンデマンドのe-learningは、お客様独自のニーズに最適なSEMを決定するのに役立つよう設計されています。当社は、マルチユーザー研究ラボ向けのサーモフィッシャーサイエンティフィックSEM技術の概要を説明し、これらの幅広いソリューションがどのように性能、汎用性、in situダイナミクスを提供し、結果を得るまでの時間を短縮するかに焦点を当てています。ご興味のある方は、以下のe-learningをご覧ください。
- さまざまな微量分析モダリティ（EDS、EBSD、WDS、CLなど）のニーズを満たす方法。
- 前処理を必要とせずに、試料を自然な状態で解析する方法。
- 新しい高度な自動化により、研究者が時間を節約し、生産性を向上させる方法。
Colored SEM image of salt
SEM image of smartphone
SED on Phenom XL
SEM image of double Perovskite LaSrZnFeO6
SEM image of metal particle
SEM image of textile
SEM image light bulb wire
SEM image of cable
SEM image of blood cells
e-learning：品質管理の自動化
このオンデマンドe-learningでは、次世代の自動デスクトップ分析を使用して品質管理プロセスを改善する方法をご紹介します。e-learningを視聴することで、以下のことができるようになります。
- 不具合を素早く発見するために必要な品質管理の情報を取得し、生産工程の調整を迅速に行えます。
- 品質管理を自動化して、人為的ミスの可能性を減らし、大量の試料を処理します。（ニーズに応じて、カスタマイズされたソリューションと標準的ソリューションの両方をご用意しています。）
- さまざまなアプリケーションに最適な、まったく新しい学習しやすいインターフェースで、スピーディに作業を開始可能。
e-learning：走査型電子顕微鏡：お客様のニーズに合った適切な技術を選択します
このオンデマンドのe-learningは、お客様独自のニーズに最適なSEMを決定するのに役立つよう設計されています。当社は、マルチユーザー研究ラボ向けのサーモフィッシャーサイエンティフィックSEM技術の概要を説明し、これらの幅広いソリューションがどのように性能、汎用性、in situダイナミクスを提供し、結果を得るまでの時間を短縮するかに焦点を当てています。ご興味のある方は、以下のe-learningをご覧ください。
- さまざまな微量分析モダリティ（EDS、EBSD、WDS、CLなど）のニーズを満たす方法。
- 前処理を必要とせずに、試料を自然な状態で解析する方法。
- 新しい高度な自動化により、研究者が時間を節約し、生産性を向上させる方法。
Colored SEM image of salt
SEM image of smartphone
SED on Phenom XL
SEM image of double Perovskite LaSrZnFeO6
SEM image of metal particle
SEM image of textile
SEM image light bulb wire
SEM image of cable
SEM image of blood cells
電子顕微鏡を使用したプロセス制御
近年の産業では、確かなプロセス制御によって維持される優れた品質とスループットの両立が求められています。専用の自動化ソフトウェアを搭載したSEMおよびTEMツールは、プロセスモニタリングおよびプロセス改善のための迅速なマルチスケール情報を提供します。
品質管理と不良解析
近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。
基礎材料研究
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
クリーン度
現代の製造では、これまで以上に信頼性の高い高品質の部品が必要とされています。走査電子顕微鏡を使用することで、部品のクリーン度分析を社内で実施でき、幅広い分析データが得られ、製造サイクルの短縮が可能です。
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EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
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3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
材料科学向けの
電子顕微鏡サービス
最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards