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製造部品の継続的な革新と改善は、メーカーが品質を犠牲にすることなく迅速かつ確実に製品を製造できるかどうかにかかっています。品質の基準が高まる中、これらの高い期待を満たすためには、部品のより徹底的な分析が必要になります。部品表面の清浄度は積層膜の密着性や膜の処理をする上でとても重要であり、その部品の性能にもつながります。実際、現場での故障率と清浄度は密接に関連していることが示されており、ドイツ自動車工業会(VDA)と国際標準化機構(ISO)が自動車部品の清浄度を解析するための包括的な規格を開発しました。
全体的に見ると、技術的清浄度の一般的評価方法は、分析結果の限定的な情報を提供するものであり、不必要に制限されている可能性があります。部品生産者は不完全な情報から汚染の原因を見つけようとするため、必然的に診断時間が長くなり、結果的に部品の製造コストが増加します。一方、走査電子顕微鏡とエネルギー分散型X線分光法(SEMとEDX)を使用すると、個々の粒子の化学組成を知ることができます。これにより、生産者は部品にとってもっとも有害な粒子に対して特別な清浄度を設定し、良性の粒子に対しては制限を緩和することができます。
サーモフィッシャーサイエンティフィックは、清浄度分析を簡素化するだけでなく、品質管理プロセスを社内に導入することで生産時間を大幅に短縮することができる、さまざまな装置とソフトウェアを提供しています。QC分析を外部に依存しなくなるため、生産サイクル時間は最大10倍短縮でき、貴重な機密データを確実に管理できるようになります。
エネルギー分散分光法
エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
エネルギー分散分光法
エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。