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製造部品の継続的な革新と改善は、メーカーが品質を犠牲にすることなく迅速かつ確実に製品を製造できるかどうかにかかっています。品質の基準が高まる中、これらの高い期待を満たすためには、部品のより徹底的な分析が必要になります。部品表面の清浄度は積層膜の密着性や膜の処理をする上でとても重要であり、その部品の性能にもつながります。実際、現場での故障率と清浄度は密接に関連していることが示されており、ドイツ自動車工業会(VDA)と国際標準化機構(ISO)が自動車部品の清浄度を解析するための包括的な規格を開発しました。

全体的に見ると、技術的清浄度の一般的評価方法は、分析結果の限定的な情報を提供するものであり、不必要に制限されている可能性があります。部品生産者は不完全な情報から汚染の原因を見つけようとするため、必然的に診断時間が長くなり、結果的に部品の製造コストが増加します。一方、走査電子顕微鏡エネルギー分散型X線分光法(SEMとEDX)を使用すると、個々の粒子の化学組成を知ることができます。これにより、生産者は部品にとってもっとも有害な粒子に対して特別な清浄度を設定し、良性の粒子に対しては制限を緩和することができます。

サーモフィッシャーサイエンティフィックは、清浄度分析を簡素化するだけでなく、品質管理プロセスを社内に導入することで生産時間を大幅に短縮することができる、さまざまな装置とソフトウェアを提供しています。QC分析を外部に依存しなくなるため、生産サイクル時間は最大10倍短縮でき、貴重な機密データを確実に管理できるようになります。


リソース

 

文献リスト
 

  自動車部品の清浄度の事例

サンプル


電池の研究

SEM、TEM、microCT、ラマン分光、XPS、および3次元データの可視化と解析により、マルチスケールの情報を得られます。これは電池の開発に大きく貢献します。どうやってもっと優れた電池を開発するための構造情報および組成情報を提供するかをご覧ください。

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高分子材料の研究

高分子材料の微細構造によって、材料のバルク特性と性能が決まります。電子顕微鏡法により、R&Dおよび品質管理のアプリケーションにおける、ポリマーの形態および組成の包括的なマイクロスケール分析が可能になります。

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金属材料の研究

金属材料を効果的に生産するには、介在物および析出物を正確にコントロールする必要があります。当社の自動化ソリューションを利用することで、ナノ粒子の計数、EDS元素分析、TEM試料作製など、金属分析に不可欠なさまざまなタスクを実行できます。

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自動車用材料の試験

現代の自動車部品のすべては、安全性、効率性、性能を考慮して設計されています。電子顕微鏡と分光法を用いた自動車材料の詳細な解析は、重要なプロセスの決定、製品の改善、および新材料開発に必要な情報を提供します。

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2D材料

新規材料研究では、低次元材料の構造への関心が高まっています。プローブの収差補正器およびモノクロメーターを備えた走査透過電子顕微鏡は、高分解能の二次元材料のイメージングを可能にします。

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Style Sheet for Komodo Tabs

手法

エネルギー分散分光法

エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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エネルギー分散分光法

エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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製品

Style Sheet for Instrument Cards Origin

Phenom XL G2 Desktop SEM

  • 大容量の試料(100 × 100 mm)に対応し、自動データ取得に最適
  • 10 nm未満の分解能、最大倍率200,000倍、加速電圧4.8 kV~20 kV
  • EDS検出器およびBSE検出器の完全一体型(オプション)

Phenom ParticleX TC Desktop SEM

  • 清浄度検査のための自動化ソフトウェアを備えた汎用卓上SEM
  • 10 nm以下の分解能、最大倍率200,000倍
  • オプションのSE検出器

Phenom ParticleMetric Software

  • ProSuiteに搭載されたオンラインおよびオフライン分析用ソフトウェア
  • 直径、真円度、アスペクト比、凸度などの粒子特性の相関
  • 自動画像マッピングによる画像データセットの作成

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