卓上SEM | Phenom ParticleX TC | Thermo Fisher Scientific

Thermo Scientific Phenom ParticleX TC卓上SEM は、マイクロスケールで清浄度を実現する多目的卓上SEMです。

卓上SEM Phenom ParticleXは、高品質な自社分析を可能にする多様なソリューションで、材料の迅速な解析、検証、分類を実行し、迅速かつ正確で信頼できるデータにより生産をサポートします。このシステムは操作が簡単で、迅速に習得でき、より多くのユーザーに粒子および材料分析を提供します。

Thermo Scientific Phenom ParticleX TCデモ

主な特徴

清浄度

自動車業界では、光学顕微鏡の範囲を超えた微粒子の分析に対する需要が高まっています。卓上SEM Phenom ParticleX TC（Technical Cleanliness,清浄度）により、自動走査型電子顕微鏡／エネルギー分散型X線分析（EDS）が実現します。これは、粒子の化学的分類を可能にするという、光顕微鏡法に優る大きな利点ですので、生産プロセスや生産環境において優れた知見を提供します。VDA 19 / ISO 16232またはISO 4406/4407に準拠した標準レポートがご利用になれます。

二次電子検出器

オプションで二次電子検出器（SED）を卓上SEM Phenom ParticleX TC（Technical Cleanliness,清浄度）に追加可能です。SEDは、試料の上部表面層から低エネルギー電子を収集します。そのため、詳細な試料の表面情報を明らかにするのに最適です。SEDは、トポグラフィーや形態が重要なアプリケーションに最適です。こうしたことは、微細構造、繊維、粒子を研究する場合によく見られます。

一般的SEMとしての使用

ユーザーインターフェースは、実績のあるPhenom卓上SEM製品に採用され使いやすさが実証済みの技術に基づいています。このインターフェースにより、既存ユーザーと新規ユーザーどちらも、最小限のトレーニングでシステムに素早く慣れることができます。

元素マッピングおよびラインスキャン

ユーザーは、クリックするだけで、卓上SEM Phenom ParticleX TC（Technical Cleanliness、清浄度）の元素マッピングおよびラインスキャン機能を操作できます。ラインスキャン機能は、ライン上の元素の濃度分布を表示します。

工業生産製品選択ツール

製品セレクターは、お客様の研究に最適な走査型電子顕微鏡（SEM）システムとソフトウェアを選択するのに役立ちます。お客様の研究用途に最適なSEMが、数分で見つかります。

最適な卓上SEMを見つける

仕様

Style Sheet for Products Table Specifications

電子光学系	長寿命の電子銃（CeB₆）ビーム電流可変
電子顕微鏡倍率	160～200,000倍
光学ナビゲーション倍率	3～16倍
分解能	<10 nm
画像解像度	960ｘ600、1920ｘ1200、3840ｘ2400および7680ｘ4800ピクセル
加速電圧	デフォルト：5 kV、10 kV、15 kV アドバンスモード：4.8 kV～20.5 kVの範囲で調整可能
真空度	低ー中ー高
検出器	反射電子検出器（標準）エネルギー分散型X線分析（EDS）装置（標準）二次電子検出器（オプション）
試料サイズ	最大100 mmｘ100 mm（12 mmのピンスタブ最大36個）最大40 mm（h）
試料の導入時間	光学像<5秒 SEM像<60秒

Style Sheet for Media Tabs

デスクトップSEMブログ

使いやすさを犠牲にすることなく、走査電子顕微鏡の優れた能力を活用できます。走査電子顕微鏡の詳細情報と、デスクトップSEMが最適な方法で研究を補助できる理由を、PhenomデスクトップSEMブログでご確認ください。

詳細を見る

Mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.

Large mineral fiber automatically detected and characterized by Phenom ParticleX TC.

Screenshot Elemental Mapping.

SEM image of smartphone.

SED image taken with Phenom ParticleX.

SEM image of cable.

SEM image of textile.

新しいPhenom ParticleXについてAlexander Bouman氏

Watch Phenom ParticleX Desktop SEM: Quality Starts at the Microscale

Watch this on-demand webinar to learn how Phenom ParticleX desktop SEMs are the ideal solution for:

ISO 16232 and VDA-19 Compliance for Technical Cleanliness.
ISO 4406 and ISO 4407 for contamination of hydraulic fluids.
Particle morphology for additive manufacturing feedstocks.
Workflow examples for particle classifications and reporting.

e-learning：走査型電子顕微鏡：お客様のニーズに合った適切な技術を選択します

このオンデマンドのe-learningは、お客様独自のニーズに最適なSEMを決定するのに役立つよう設計されています。当社は、マルチユーザー研究ラボ向けのサーモフィッシャーサイエンティフィックSEM技術の概要を説明し、これらの幅広いソリューションがどのように性能、汎用性、in situダイナミクスを提供し、結果を得るまでの時間を短縮するかに焦点を当てています。ご興味のある方は、以下のe-learningをご覧ください。