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先端材料
新規性材料と技術革新は切っても切れない関係にあります。継続的な技術革新を促進するために、研究者はマクロ、マイクロ、ナノスケールでの材料の物理的・化学的特性（形態学的、構造的、磁気的、熱的、機械的）についてより詳細な情報を求めています。
材料の特性を理解し、改善することで、その有用性と価値を高めることができます。その理由は数多くあります。強度、延性、密度、耐食性、電気伝導性などは、材料の強化やまったく新しいアプリケーションに不可欠な特性のごく一部です。
ポリマー材料と触媒
ポリマーや触媒研究に携わる化学者や技術者の間には、材料の構造と機能の関係をマイクロメートルやナノメートルのスケールでより深く理解したいという要望があります。それらの発見は、目標とする機能性、長寿命化、交換コストの低減、強度の向上、製造性の向上を備えた新しい材料システムにつながります。
エキサイティングなナノデバイスの分野では、電子、磁気、機械、および光学システムに固有の機能を備えた小型化技術の開発に焦点を当てています。センサー、アクチュエータ、およびマイクロ流体デバイスは、世界中のエネルギー、通信、重要なモニタリングの課題を解決するために必要とされています。
材料研究
科学者は、物質構造に関する知識を深めるとともに、光、温度、圧力、その他の刺激に反応して物質がどのように作用するかを理解したいと考えています。さらに、二次元観察では、必ずしも三次元世界の回答は得ることができるとは限りません。したがって材料の可視化、分析、特性評価では、現実に即して、さまざまな環境条件下での三次元の情報取得が必要です。
革新的な材料が、安全性、クリーンエネルギー、輸送、人間の健康、産業生産性において重要な役割を果たしていることは明らかです。サーモフィッシャーサイエンティフィックは、代替エネルギー源、強度や軽量性に優れた材料、最先端ナノデバイスの開発などにおいて、新しい材料の基礎研究や開発に有用な各種の分光法および電子顕微鏡ツールを提供しています。
電子顕微鏡による接着塗料の分析。スチール塗装層のスクラッチ検査は、スクラッチの深さおよび接着層での層間剥離効果の影響を特定するために使用される。
NaYF4で構成されたフォトニックアップコンバージョンナノ粒子（UCNP）のSEM像。UCNPには各種の生物医学的アプリケーションがあり、たとえばin cellulo、in vivo、ex vivoでのイメージングコントラストラベル、食品中の抗生物質や毒素検出用のバイオセンサー、体液（全血、血清、尿など）中のバイオマーカー測定用のバイオセンサー、がん細胞などを標的とする治療薬として使用される。
NiTiZr形状記憶合金の高分解能明視野STEM像。この材料は軽量の固体で、従来の油圧、空気圧、モーターなどをベースとしたアクチュエーターシステムの代替品となる。
電子顕微鏡による接着塗料の分析。スチール塗装層のスクラッチ検査は、スクラッチの深さおよび接着層での層間剥離効果の影響を特定するために使用される。
NaYF4で構成されたフォトニックアップコンバージョンナノ粒子（UCNP）のSEM像。UCNPには各種の生物医学的アプリケーションがあり、たとえばin cellulo、in vivo、ex vivoでのイメージングコントラストラベル、食品中の抗生物質や毒素検出用のバイオセンサー、体液（全血、血清、尿など）中のバイオマーカー測定用のバイオセンサー、がん細胞などを標的とする治療薬として使用される。
NiTiZr形状記憶合金の高分解能明視野STEM像。この材料は軽量の固体で、従来の油圧、空気圧、モーターなどをベースとしたアクチュエーターシステムの代替品となる。
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(S)TEM試料作製
DualBeam顕微鏡では、(S)TEM分析用の高品質な極薄膜試料の作製が可能です。高度な自動化機能により、ユーザーの経験レベルにかかわらず、あらゆる材料で熟練者と同等の結果を得ることができます。
3D材料解析
多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。
ナノスケールのプロトタイピング
技術の微細化が進むにつれ、ナノスケールのデバイスや構造に対する需要はますます高まっています。DualBeam装置を使用した3Dナノプロトタイピングにより、マイクロスケールおよびナノスケールの機能的構造試作の設計、作製、および検査を迅速に行うことができます。
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EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
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3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
ChemiSEM
ChemiSEM技術は、ライブEDS（エネルギー分散型X線分光法）とライブ定量を使用して、SEM画像をカラー化します。どのユーザーでも、組成のデータを継続的に取得して、これまで以上に詳細な情報を得ることができます。
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HRSTEM、HRTEMのイメージング
透過電子顕微鏡は、ナノ粒子やナノ材料の構造解析をするための非常に重要な技術です。高分解能STEMおよびTEMにより、化学組成の情報とともに原子分解能データが得られます。
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微分位相コントラストイメージング
近年のエレクトロニクス研究は、電気的および磁気的特性のナノスケール分析が重要です。微分位相コントラストSTEM（DPC-STEM）により、試料中の磁場の強度と分布を可視化し、磁区構造を表示することができます。
高温試料のイメージング
実際の条件下で材料を研究するには、高温の試料を観察する必要もよくあります。高温下で材料が再結晶化、溶解、変形、反応する際の挙動は、走査電子顕微鏡またはDualBeamシステムを用いてin situで研究できます。
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環境制御型SEM（ESEM）
環境制御型SEMにより、材料を本来の状態で観察できます。これは、ウェットな、汚れている、反応性のある、ガス放出があるなどの真空に適さない試料を扱う研究者に最適です。
電子エネルギー損失分光法
高分解能EELSは、材料科学研究の幅広い分析アプリケーションに対応します。EELSを利用することで速くて高S/N比の元素マッピング、酸化状態の確認や表面フォノンの解析などが可能です。
断面加工
断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。
In situ試験
加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
カソードルミネッセンス
カソードルミネッセンス（CL）では電子ビームで励起され、物質から放出された光を検出します。この信号は、特殊なCL検出器によって収集され、試料の組成、結晶欠陥、またはフォトニクス特性に関する情報が得られます。
SIMS
集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）用の飛行時間型二次イオン質量分析（TOF-SIMS）検出器を用いることにより、周期表のすべての元素の低濃度での高分解能分析が可能になります。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
APT試料作製
アトムプローブトモグラフィー（APT）では、原子分解能で材料の3D組成分析を行うことができます。集束イオンビーム（FIB）顕微鏡技術は、APT解析用の方位と解析領域をコントロールできる高品質な試料作製に不可欠です。
自動NanoParticleワークフロー（APW）は、ナノ粒子分析用の透過型電子顕微鏡ワークフローです。広領域のナノスケール高分解能イメージングとデータ取得、およびその場での処理を行えます。
(S)TEM試料作製
DualBeam顕微鏡では、(S)TEM分析用の高品質な極薄膜試料の作製が可能です。高度な自動化機能により、ユーザーの経験レベルにかかわらず、あらゆる材料で熟練者と同等の結果を得ることができます。
3D材料解析
多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。
ナノスケールのプロトタイピング
技術の微細化が進むにつれ、ナノスケールのデバイスや構造に対する需要はますます高まっています。DualBeam装置を使用した3Dナノプロトタイピングにより、マイクロスケールおよびナノスケールの機能的構造試作の設計、作製、および検査を迅速に行うことができます。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
ChemiSEM
ChemiSEM技術は、ライブEDS（エネルギー分散型X線分光法）とライブ定量を使用して、SEM画像をカラー化します。どのユーザーでも、組成のデータを継続的に取得して、これまで以上に詳細な情報を得ることができます。
HRSTEM、HRTEMのイメージング
透過電子顕微鏡は、ナノ粒子やナノ材料の構造解析をするための非常に重要な技術です。高分解能STEMおよびTEMにより、化学組成の情報とともに原子分解能データが得られます。
微分位相コントラストイメージング
近年のエレクトロニクス研究は、電気的および磁気的特性のナノスケール分析が重要です。微分位相コントラストSTEM（DPC-STEM）により、試料中の磁場の強度と分布を可視化し、磁区構造を表示することができます。
高温試料のイメージング
実際の条件下で材料を研究するには、高温の試料を観察する必要もよくあります。高温下で材料が再結晶化、溶解、変形、反応する際の挙動は、走査電子顕微鏡またはDualBeamシステムを用いてin situで研究できます。
環境制御型SEM（ESEM）
環境制御型SEMにより、材料を本来の状態で観察できます。これは、ウェットな、汚れている、反応性のある、ガス放出があるなどの真空に適さない試料を扱う研究者に最適です。
電子エネルギー損失分光法
高分解能EELSは、材料科学研究の幅広い分析アプリケーションに対応します。EELSを利用することで速くて高S/N比の元素マッピング、酸化状態の確認や表面フォノンの解析などが可能です。
断面加工
断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。
In situ試験
加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
カソードルミネッセンス
カソードルミネッセンス（CL）では電子ビームで励起され、物質から放出された光を検出します。この信号は、特殊なCL検出器によって収集され、試料の組成、結晶欠陥、またはフォトニクス特性に関する情報が得られます。
SIMS
集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）用の飛行時間型二次イオン質量分析（TOF-SIMS）検出器を用いることにより、周期表のすべての元素の低濃度での高分解能分析が可能になります。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
APT試料作製
アトムプローブトモグラフィー（APT）では、原子分解能で材料の3D組成分析を行うことができます。集束イオンビーム（FIB）顕微鏡技術は、APT解析用の方位と解析領域をコントロールできる高品質な試料作製に不可欠です。
自動NanoParticleワークフロー（APW）は、ナノ粒子分析用の透過型電子顕微鏡ワークフローです。広領域のナノスケール高分解能イメージングとデータ取得、およびその場での処理を行えます。
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