ナノ粒子分析

ナノメートルサイズの粒子は、食品添加物、高性能金属、触媒など、さまざまな材料に存在しています。日常的に用いられる材料の特性を改善するプロセスの一環として、ナノ粒子の特性評価では、ナノスケールの構造を探索することが必要です。こうした日常品に含まれるナノ粒子の組成、サイズ、形状の定量は、ナノ粒子と関係性、性能、品質、安全性について理解を深める上で重要な第一歩となります。

自動ナノ粒子分析

Thermo Scientific自動粒子解析ワークフロー(APW)は、産業、学術、政府研究機関のラボにおける研究および製品開発プロセスを改善するもので、化学分析ワークフローの効率化に役立つソフトウェアをオールインワンパッケージで提供します。

APWは、データ取得から自動処理までのワークフロー全体を自動化する唯一のソリューションです。APWを利用することにより、統計的に有意な、広領域、高解像度(ナノスケール)の結果を迅速に取得できます。APWは、Thermo Scientific Talos (S)TEMおよびThermo Scientific Spectra (S)TEM、Thermo Scientific Maps EDSソフトウェアとシームレスに統合でき、より多くの統計データ取得を可能にすると同時に(合計50対>500/時間)、プロセスを簡素化します。


化学分析を効率化するダイナミックなソフトウェアインテグレーション

高生産性

APWを利用すると、結果取得までに要する時間が短縮されます。APWの完全自動ソリューションは、新製品やプロセスを迅速にスクリーニングし、データ収集を促進すると同時に、より多くのサンプルを、より短時間で分析できるようにします。

APWは、日常的に実行されるナノスケールでのイメージングや化学分析を、夜間に自動で実行することにより、TEMの生産性向上を実現します。こうして新たに確保されたTEMの空き時間は、他の研究開発に用いることが可能です。その結果、高機能材料の開発の効率化や、新製品研究の加速が期待されます。

測定コストの削減

APWは繰り返しプロセスを無人化することで、測定コストの削減をもたらします。こうした自動化は、複雑なワークフローを迅速に処理し、マニュアルプロセスでは不可避なヒューマンエラーを排除することで、より高速なプロセス処理とより正確な結果をもたらします。

自動化と無人操作による操作性の向上

APWは簡単に使うことができ、顕微鏡のエキスパートでなくとも活用することが可能です。ユーザーは各自の経験レベルにかかわらず材料の研究に集中でき、システムの操作に煩わされることはありません。APWは、既存のワークフローとの統合が可能であると同時に、高度な自動化が可能であり、無人実行に対応した効率的でユーザーフレンドリーなソフトウェアパッケージです。

多種多様な実験

さまざまな種類の材料でさまざまな実験を行うことができます。APWではエネルギー分散型X線分光法(EDS)などが利用でき、金属、触媒、食品、塗料、アスベストなどの研究が可能です。APWにより収集および分析されるデータには、ナノ粒子の形態、化学組成、構造情報(サイズ、形状、分布)が含まれ、これらに関する疑問をより多く解決することが、最終的には製品の品質を向上させます。

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自動粒子解析ワークフローの実行

 

APWパッケージには、STEMとEDSを用いた試料の自動無人測定を簡単に実施するために必要なすべてのソフトウェアとハードウェアが含まれており、ユーザーが必要とする科学的に有意な統計データを取得できます。APWには、Talos TEMまたはSpectra (S)TEM用のコンピューターアップグレードをはじめ、データ取得ソフトウェア(Thermo Scientific Veloxソフトウェアにより有効化される(S)TEMおよびEDS用のThermo Scientific Maps 3ソフトウェア)、専用コンピューターで用いるデータ処理ソフトウェア(Thermo Scientific Avizo2Dソフトウェア)、データ取得とデータ処理ソフトウェア間のブリッジが含まれています。


リソース

高解像度APW

高解像度APW

応用例

電子顕微鏡を使用したプロセス制御

電子顕微鏡を使用したプロセス制御

近年の産業では、確かなプロセス制御によって維持される優れた品質とスループットの両立が求められています。専用の自動化ソフトウェアを搭載したSEMおよびTEMツールは、プロセスモニタリングおよびプロセス改善のための迅速なマルチスケール情報を提供します。

 

電子顕微鏡を使用した品質管理と不良解析

品質管理と不良解析

近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。

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基礎材料研究

新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。

 


手法

EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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サンプル


ナノ粒子

材料のナノスケールの性質と特性はマクロスケールの特性と根本的に異なります。それで材料解析を行う時、S/TEMの技術とエネルギー分散型X線分光法を組み合わせることが効果的であり、ナノメートルまたはサブナノメートルの分解能のデータを得ることができます。

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触媒研究

触媒は現代の工業プロセスに不可欠です。触媒の活性は、触媒粒子の微細な組成と形態に依存します。電子顕微鏡のEDS分析は、これらの特性の研究に最適です。

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金属材料の研究

金属材料を効果的に生産するには、介在物および析出物を正確にコントロールする必要があります。当社の自動化ソリューションを利用することで、ナノ粒子の計数、EDS元素分析、TEM試料作製など、金属分析に不可欠なさまざまなタスクを実行できます。

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製品

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Spectra Ultra TEM

  • 最もビームに敏感な材料に対応する新しいイメージングおよび分析の性能
  • Ultra-X検出器によるEDX検出の飛躍的進歩
  • サンプルの完全性を維持するよう設計されたカラム。

Spectra 200 TEM

  • 30~200 kVの加速電圧設定で高解像度かつ高コントラストのイメージング
  • 5.4 mmのワイドギャップポールピース設計の対称S-TWIN/X-TWIN対物レンズ
  • 60 kV~200 kVでサブオングストロームの分解能を有するSTEMイメージング

Spectra 300 TEM

  • 最高レベルの分解能による原子レベルの構造および化学情報
  • 30~300 kVの柔軟な加速電圧範囲
  • 3レンズコンデンサーシステム

Talos F200S TEM

  • 正確な化学組成データ
  • 高性能イメージングと精密な組成分析により、動的顕微鏡解析を実現します
  • 多種類の分析データの迅速かつ簡単な取得を可能にするVeloxソフトウェアを搭載

Talos F200X TEM

  • STEMイメージングおよび元素分析における高分解能と高速データ取得
  • 動的実験用のin situサンプルホルダーを追加
  • 多種類の分析データの迅速かつ簡単な取得を可能にするVeloxソフトウェアを搭載

Talos F200i TEM

  • 高品質なS/TEM画像と正確なEDS
  • Dual EDSテクノロジーを装備可能
  • 最高かつオールラウンドなin situ機能
  • 高速での広視野イメージング

Avizo Software
材料科学

  • マルチデータ/マルチビュー、マルチチャンネル、時系列、非常に大きなデータのサポート
  • 高度なマルチモード2D/3D自動位置合わせ
  • アーチファクト削減アルゴリズム

Maps Software

  • 広領域の高分解能画像を取得
  • 関心領域を容易に発見
  • 画像取得プロセスを自動化
  • 異なる機器で得られたデータを相関

Velox Software

  • パネル表示で取得済のデータを簡単に確認。
  • ライブ定量マッピング
  • インタラクティブな検出器図による再現性の高い試験の制御と設定

お問い合わせ

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電子顕微鏡サービス

最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。