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Talos F200i透過型電子顕微鏡
Thermo Scientific Talos Fi (S)TEMは、さまざまな材料科学分野の試料およびアプリケーションにおいて、高性能、高生産性を実現するために設計された、20～200 kVの電界放出（走査）透過型電子顕微鏡です。広いポールピースギャップX-Twin対物レンズを標準装備し、あらゆるアプリケーションに対応する柔軟性と再現性の高い電子カラムとの組み合わせにより、高分解能での2Dおよび3D解析、in situの動的観察、および回折に至るまでアプリケーションを拡張します。
Talos F200i透過型電子顕微鏡の利点
Talos F200i (S)TEMは、マルチユーザー環境および多岐にわたる分野に対応する設計で、初心者ユーザーにも最適です。すべてのThermo Scientific TEM共通であるThermo Scientific Veloxユーザーインターフェースを備えており、他のTEMと同様にすぐに使用できます。TEMの日常の調整はすべて自動化されており、最高かつ再現性の高いアラインメントを実現します。Align Genie自動化ソフトウェアは、初心者の方の装置習得を容易にし、マルチユーザー環境でのストレスを軽減し、経験豊富な方のデータ取得時間を短縮します。サイドエントリー型のリトラクタブルエネルギー分散型X線分光（EDS）検出器を追加することにより、化学分析が可能になります。
コンパクト設計
Talos F200iは、設置面積、寸法が小さいため、より狭い部屋での設置が可能です。さらに、このコンパクトな設計により、サービスエンジニアのアクセスが容易になり、部屋準備の費用も削減されます。
すべてのユーザーのための生産性
特にマルチユーザーとマルチ材料環境での生産性をさらに高めるために、コンスタントパワー対物レンズ、低ヒステリシス設計、およびSmartCamカメラによる遠隔操作により、高い再現性でモード切替と加速電圧変更を簡単に実現できます。Talos F200i (S)TEMには、教育用のオンラインヘルプも用意されています。コントロールパネルの上にマウスを置いてF1キーを押すだけで、関連情報がすぐに表示されます。
Style Sheet for Komodo Tabs
Talos F200i透過型電子顕微鏡の特長
金ニッケルナノ粒子の大面積高速取得
金ニッケルナノ粒子上のDual-Xを用いて1分未満で取得された大面積、高分解能EDSマッピングの例。試料提供：Institute of Physics of Materials (Brno), J. Bursik。
銀ニッケルコアシェルナノ粒子の詳細解析
ニトロ化合物（4-ニトロフェノール、4-ニトロアニリンなど）の還元や有機色素の分解触媒として有効なAgNiナノ粒子の高分解能EDSマッピングの例。それぞれのEDSマップから、Ag0.6Ni0.4系がニトロ化合物および有機色素の還元分解反応においてもっとも高い触媒活性を示すことが明らかになりました。またAgNiナノ粒子は水素生成触媒としても研究されています。こちらの例では、AgNiナノ粒子による水素生成速度は、同サイズの別々に準備するAgナノ粒子かNiナノ粒子よりもはるかに高いことがわかりました。また、このマップから、シェルの1つがニッケルではなく硫黄であることがわかります。試料提供：Institute of Physics of Materials (Brno), J. Bursik。
Co-g-C3N4/Ptを用いた分析
光触媒水素発生に使用される、ビームダメージを受けやすい材料の高分解能EDSマッピングの例。小さなナノ粒子（Pt）は光触媒反応の活性層として機能します。白金ナノ粒子を担持したCo-g-C3N4の構造を観察することで、Co原子と白金ナノ粒子との位置関係を明らかにし、この試料の光触媒活性が向上する原理を解明する研究がなされています。この実験では、g-C3N4の表面にCoが原子レベルで分散、または直径1 nm以下で存在（単一原子分散）、Co-g-C3N4表面上にPtナノ粒子が析出しているなどが仮定されています。このことは元素マッピングデータの結果によって確認されました。試料提供：中国西安交通大学、ShengChun Yang教授。
材料科学向けTalos F200i
Thermo Scientific Talos F200i (S)TEMは、様々な材料科学分野の試料およびアプリケーションで高性能と高生産性を実現するために設計された、20～200 kVの電界放出（走査）透過型電子顕微鏡です。広いポールピースギャップX-Twin対物レンズを標準搭載し、あらゆるアプリケーションに柔軟に対応し、再現性の高い電子カラムと組み合わせることで、高分解能での2Dおよび3D解析、in situの動的観察、および回折に至るまでアプリケーションを拡張します。
金ニッケルナノ粒子の大面積高速取得
金ニッケルナノ粒子上のDual-Xを用いて1分未満で取得された大面積、高分解能EDSマッピングの例。試料提供：Institute of Physics of Materials (Brno), J. Bursik。
銀ニッケルコアシェルナノ粒子の詳細解析
ニトロ化合物（4-ニトロフェノール、4-ニトロアニリンなど）の還元や有機色素の分解触媒として有効なAgNiナノ粒子の高分解能EDSマッピングの例。それぞれのEDSマップから、Ag0.6Ni0.4系がニトロ化合物および有機色素の還元分解反応においてもっとも高い触媒活性を示すことが明らかになりました。またAgNiナノ粒子は水素生成触媒としても研究されています。こちらの例では、AgNiナノ粒子による水素生成速度は、同サイズの別々に準備するAgナノ粒子かNiナノ粒子よりもはるかに高いことがわかりました。また、このマップから、シェルの1つがニッケルではなく硫黄であることがわかります。試料提供：Institute of Physics of Materials (Brno), J. Bursik。
Co-g-C3N4/Ptを用いた分析
光触媒水素発生に使用される、ビームダメージを受けやすい材料の高分解能EDSマッピングの例。小さなナノ粒子（Pt）は光触媒反応の活性層として機能します。白金ナノ粒子を担持したCo-g-C3N4の構造を観察することで、Co原子と白金ナノ粒子との位置関係を明らかにし、この試料の光触媒活性が向上する原理を解明する研究がなされています。この実験では、g-C3N4の表面にCoが原子レベルで分散、または直径1 nm以下で存在（単一原子分散）、Co-g-C3N4表面上にPtナノ粒子が析出しているなどが仮定されています。このことは元素マッピングデータの結果によって確認されました。試料提供：中国西安交通大学、ShengChun Yang教授。
高分解能電界放出電子銃（FEG）の選択が可能です。
S-FEG、高輝度X-FEG、または超高輝度の冷陰極電界放出電子銃（X-CFEG）から選択できます。X-CFEGは、最高レベルの(S)TEMイメージングを最高レベルのエネルギー分解能を兼ね備えています。
デュアルEDSテクノロジーが選択可能
シングル30 mm²検出器から高スループット（または低線量）分析用のデュアル100 mm²検出器まで、お客様のニーズに合わせ最適なEDS検出器を選択できます。
高品質のSTEM/TEM画像と高精度EDS
革新的で直感性に優れたVeloxソフトウェアのユーザーインターフェースにより、高品質のTEMまたはSTEM画像を簡単に取得できます。Veloxソフトウェア独自のEDS吸収補正により、もっとも正確な定量が可能です。
最高のオールラウンドのin situ機能
トモグラフィーまたはin situ試料ホルダーがオプション選択可能です。高速カメラ、スマートソフトウェア、および当社のワイドX-TWIN対物レンズギャップにより、分解能と分析能力は両立し、さらに3Dイメージングおよびin situでのデータ取得が可能になります。
生産性の向上
高速なモード切替および加速電圧（HT）変更に対応したコンスタントパワー対物レンズを使用した、きわめて安定したカラムとSmartCamカメラによるリモート操作。マルチユーザー環境向けの迅速で簡単な切り替え。
もっとも再現性の高いデータ
フォーカス、ユーセントリック高さ、ビームシフト、コンデンサ絞り、ビーム傾斜ピボットポイント、ローテーションセンターなどの日常的なTEM調整はすべて自動化されており、いつでも最適なイメージング条件で使用できます。再現性の高い実験を繰り返し行えるため、装置状態を気にすることなく研究に集中できます。
高速で広視野のイメージング
広視野4k × 4k Ceta CMOSカメラは、全加速電圧範囲にわたり高感度かつ高速でライブデジタルズームを可能にします。
コンパクト設計
設置面積と寸法が小さいため、より狭い部屋での設置が可能になり、費用も削減できます。
Style Sheet for Products Table Specifications
| TEM |
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| オペレーティングシステムXXユニット |
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| 真空システム |
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| STEMイメージング |
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| エネルギー分解X線分光法（EDS） |
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| 電子エネルギー損失分光（EELS） |
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| 輝度 200 kV |
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電子顕微鏡を使用したプロセス制御
近年の産業では、確かなプロセス制御によって維持される優れた品質とスループットの両立が求められています。専用の自動化ソフトウェアを搭載したSEMおよびTEMツールは、プロセスモニタリングおよびプロセス改善のための迅速なマルチスケール情報を提供します。
品質管理と不良解析
近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。
基礎材料研究
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
エネルギー分散分光法
エネルギー分散分光法（EDS）を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。
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3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
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EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
電子エネルギー損失分光法
高分解能EELSは、材料科学研究の幅広い分析アプリケーションに対応します。EELSを利用することで速くて高S/N比の元素マッピング、酸化状態の確認や表面フォノンの解析などが可能です。
In situ試験
加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
自動NanoParticleワークフロー（APW）は、ナノ粒子分析用の透過型電子顕微鏡ワークフローです。広領域のナノスケール高分解能イメージングとデータ取得、およびその場での処理を行えます。
エネルギー分散分光法
エネルギー分散分光法（EDS）を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。
3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
電子エネルギー損失分光法
高分解能EELSは、材料科学研究の幅広い分析アプリケーションに対応します。EELSを利用することで速くて高S/N比の元素マッピング、酸化状態の確認や表面フォノンの解析などが可能です。
In situ試験
加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
自動NanoParticleワークフロー（APW）は、ナノ粒子分析用の透過型電子顕微鏡ワークフローです。広領域のナノスケール高分解能イメージングとデータ取得、およびその場での処理を行えます。
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