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粒子の形態、構造、形状、およびサイズは、その化学的および物理的特性において重要な役割を果たします。これは特に、（マクロスケールにおいて）対応する物質とは根本的に異なる物理的特性を持つナノ粒子に当てはまります。たとえば、半導体ナノ粒子のサイズによって、発光する光の周波数と波長を変えることができるため、実用的なオプトエレクトロニクスでのアプリケーションに不可欠な寸法を正確に制御できます。これらの粒子の構造特性と化学特性、およびそれらの変更方法を理解するには、電子顕微鏡などで可能となる正確な分析が必要です。
また、金属の供給粉末を利用し、精密に設計された部品を製造するアディティブ・マニュファクチャリングもその一例です。原料となる粉末粒子の品質と一貫性は、製造部品の品質に直接に影響するからです。粒子の形態や化学的性質のばらつきは、不均一な積層、欠陥の増加、ひいては致命的な欠陥につながる可能性があるため、化学的および物理的解析が必要なのです。一方、これらの粉末を正確に可視化することで、設計、開発、品質管理における革新と改善につながります。
サーモフィッシャーサイエンティフィックは、粒子の解析を支援するために、高度な分析ソフトウェアとともにさまざまな顕微鏡ソリューションを提供しています。お客様のニーズに合わせて、粒子や原料粉末の自動かつ正確な分析を実現するように設計されたハードウェアとソフトウェアをご用意しています。
コバルト粒子凝集体のSEM像。サーモフィッシャーサイエンティフィックの各種ソフトウェアワークフローを用いることにより、このようなSEM像の分析およびパラメーター化が可能。
粉末試料から分離された2つのコバルト粒子のSEM像。
基板上に分散したガラス粒子のSEMを用いた低倍率像。
粉末試料由来の粒子グループをSEMによりイメージング。
自動取得された広領域STEM-EDSデータから識別されたナノ粒子単位の元素組成。Avizoソフトウェアによりデータを処理。試料提供：J. Bursik氏、材料物理学研究所、ブルノ。
Talos TEMでは、Maps、Velox、Avizoソフトウェアの組み合わせにより、ナノ粒子などの広領域TEMデータの生成と分析の自動処理が可能。表示色は粒子サイズに対応。データはその後の定量および分析が可能。試料提供：B. Gorman教授、R. Richards教授、コロラド鉱山大学。
参考資料
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
コバルト粒子凝集体のSEM像。サーモフィッシャーサイエンティフィックの各種ソフトウェアワークフローを用いることにより、このようなSEM像の分析およびパラメーター化が可能。
粉末試料から分離された2つのコバルト粒子のSEM像。
基板上に分散したガラス粒子のSEMを用いた低倍率像。
粉末試料由来の粒子グループをSEMによりイメージング。
自動取得された広領域STEM-EDSデータから識別されたナノ粒子単位の元素組成。Avizoソフトウェアによりデータを処理。試料提供：J. Bursik氏、材料物理学研究所、ブルノ。
Talos TEMでは、Maps、Velox、Avizoソフトウェアの組み合わせにより、ナノ粒子などの広領域TEMデータの生成と分析の自動処理が可能。表示色は粒子サイズに対応。データはその後の定量および分析が可能。試料提供：B. Gorman教授、R. Richards教授、コロラド鉱山大学。
参考資料
Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series
In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.
- How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
- Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
- Speed up your automated gunshot residue analysis
- Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
- Understand your steel with automated inclusion analysis
- One tool for complete AM powder characterization
電子顕微鏡を使用したプロセス制御
近年の産業では、確かなプロセス制御によって維持される優れた品質とスループットの両立が求められています。専用の自動化ソフトウェアを搭載したSEMおよびTEMツールは、プロセスモニタリングおよびプロセス改善のための迅速なマルチスケール情報を提供します。
品質管理と不良解析
近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。
クリーン度
現代の製造では、これまで以上に信頼性の高い高品質の部品が必要とされています。走査電子顕微鏡を使用することで、部品のクリーン度分析を社内で実施でき、幅広い分析データが得られ、製造サイクルの短縮が可能です。
基礎材料研究
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
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材料科学向けの
電子顕微鏡サービス
最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。
