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ポリマーは私たちの日常生活において重要な役割を果たし、家庭用製品や繊維から、世界を動かす交通機関、航空、航空宇宙関連の部品まで、あらゆるものを構成しています。ポリマーの微細構造は、これらの重要な機能性製品の全体的な性能を決定するため、それらを対応するスケールで研究し、最適化する必要があります。
電子顕微鏡は、ポリマーの解析と分析において重要な役割を果たします。新材料の形態や組成、異物の識別（製造プロセスでの汚染の追跡）、および部品の故障分析（より優れた性能で改善された材料の作製を可能にする）など、さまざまな重要な情報を提供します。
サーモフィッシャーサイエンティフィックは、X線マイクロトモグラフィー（microCT）、デスクトップおよびフロアモデルの走査電子顕微鏡（SEM）、Thermo Scientific DualBeam装置（FIB-SEM）、透過電子顕微鏡（TEM）など、装置全体を網羅し、ポリマー分析のための包括的なソリューションを提供しています。これらのツールを組み合わせることで、R&D、技術サービス、および製造ラインの品質管理ラボにおけるポリマー解析のニーズを容易に満たすことができます。
ポリマーフィルター膜の3D再構成。Thermo Scientific Apreo Volumescope SEMで取得したスライス厚50 nmのデータ。後方散乱電子像は50 Pa環境下で取得。
金属ナノ粒子を含むポリマービーズの低加速SEM像。二次電子像によりポリマービーズの形態を確認。
金属ナノ粒子を含むポリマービーズの低加速SEM像。後方散乱電子像によりビーズ上の酸化鉄ナノ粒子を確認。
低真空モードにて非コーティングのガラス繊維強化ポリマー（GFRP）破面のEDSマッピングが可能。元素マッピングにより、マトリックスに炭素が多く含まれること、および、ガラス繊維がシリコン、アルミニウム、酸化カルシウムの混合物であることを確認。
添加剤と繊維を含む普通紙の包括的な形態を示す画像を、2つの検出器からの信号を組み合わせることによって生成。画像中の色は元素組成を示し、コントラストは材料の起伏を表現。
クライオ下でのブロック共重合体の低ドーズTEM像。共重合体ミセルは水中にあり、PAA-PI-PSとPAA-PSの混合物から球-球充填を生成。試料提供：Thomas Epps III教授、デラウェア大学。
金属ナノ粒子を含むポリマービーズの低加速SEM像。二次電子像によりポリマービーズの形態を確認。
金属ナノ粒子を含むポリマービーズの低加速SEM像。後方散乱電子像によりビーズ上の酸化鉄ナノ粒子を確認。
低真空モードにて非コーティングのガラス繊維強化ポリマー（GFRP）破面のEDSマッピングが可能。元素マッピングにより、マトリックスに炭素が多く含まれること、および、ガラス繊維がシリコン、アルミニウム、酸化カルシウムの混合物であることを確認。
添加剤と繊維を含む普通紙の包括的な形態を示す画像を、2つの検出器からの信号を組み合わせることによって生成。画像中の色は元素組成を示し、コントラストは材料の起伏を表現。
クライオ下でのブロック共重合体の低ドーズTEM像。共重合体ミセルは水中にあり、PAA-PI-PSとPAA-PSの混合物から球-球充填を生成。試料提供：Thomas Epps III教授、デラウェア大学。
電子顕微鏡を使用したプロセス制御
近年の産業では、確かなプロセス制御によって維持される優れた品質とスループットの両立が求められています。専用の自動化ソフトウェアを搭載したSEMおよびTEMツールは、プロセスモニタリングおよびプロセス改善のための迅速なマルチスケール情報を提供します。
品質管理と不良解析
近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。
基礎材料研究
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
クリーン度
現代の製造では、これまで以上に信頼性の高い高品質の部品が必要とされています。走査電子顕微鏡を使用することで、部品のクリーン度分析を社内で実施でき、幅広い分析データが得られ、製造サイクルの短縮が可能です。
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EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
ChemiSEM
ChemiSEM技術は、ライブEDS（エネルギー分散型X線分光法）とライブ定量を使用して、SEM画像をカラー化します。どのユーザーでも、組成のデータを継続的に取得して、これまで以上に詳細な情報を得ることができます。
断面加工
断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
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微分位相コントラストイメージング
近年のエレクトロニクス研究は、電気的および磁気的特性のナノスケール分析が重要です。微分位相コントラストSTEM（DPC-STEM）により、試料中の磁場の強度と分布を可視化し、磁区構造を表示することができます。
(S)TEM試料作製
DualBeam顕微鏡では、(S)TEM分析用の高品質な極薄膜試料の作製が可能です。高度な自動化機能により、ユーザーの経験レベルにかかわらず、あらゆる材料で熟練者と同等の結果を得ることができます。
高温試料のイメージング
実際の条件下で材料を研究するには、高温の試料を観察する必要もよくあります。高温下で材料が再結晶化、溶解、変形、反応する際の挙動は、走査電子顕微鏡またはDualBeamシステムを用いてin situで研究できます。
3D材料解析
多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。
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環境制御型SEM（ESEM）
環境制御型SEMにより、材料を本来の状態で観察できます。これは、ウェットな、汚れている、反応性のある、ガス放出があるなどの真空に適さない試料を扱う研究者に最適です。
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EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
SIMS
集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）用の飛行時間型二次イオン質量分析（TOF-SIMS）検出器を用いることにより、周期表のすべての元素の低濃度での高分解能分析が可能になります。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
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3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
ChemiSEM
ChemiSEM技術は、ライブEDS（エネルギー分散型X線分光法）とライブ定量を使用して、SEM画像をカラー化します。どのユーザーでも、組成のデータを継続的に取得して、これまで以上に詳細な情報を得ることができます。
断面加工
断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
微分位相コントラストイメージング
近年のエレクトロニクス研究は、電気的および磁気的特性のナノスケール分析が重要です。微分位相コントラストSTEM（DPC-STEM）により、試料中の磁場の強度と分布を可視化し、磁区構造を表示することができます。
(S)TEM試料作製
DualBeam顕微鏡では、(S)TEM分析用の高品質な極薄膜試料の作製が可能です。高度な自動化機能により、ユーザーの経験レベルにかかわらず、あらゆる材料で熟練者と同等の結果を得ることができます。
高温試料のイメージング
実際の条件下で材料を研究するには、高温の試料を観察する必要もよくあります。高温下で材料が再結晶化、溶解、変形、反応する際の挙動は、走査電子顕微鏡またはDualBeamシステムを用いてin situで研究できます。
3D材料解析
多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。
環境制御型SEM（ESEM）
環境制御型SEMにより、材料を本来の状態で観察できます。これは、ウェットな、汚れている、反応性のある、ガス放出があるなどの真空に適さない試料を扱う研究者に最適です。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
SIMS
集束イオンビーム走査電子顕微鏡（FIB-SEM）用の飛行時間型二次イオン質量分析（TOF-SIMS）検出器を用いることにより、周期表のすべての元素の低濃度での高分解能分析が可能になります。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
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