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3D電子顕微鏡

新材料の研究や不良の根本原因の解明の場合であっても、かつてないほど微小な特徴を有し、ますます複雑化する試料に対して、極めて局所的な解析を行うことは、ますます重要になっています。実際に、試料の材料特性を完全に理解するには、しばしば断面または三次元の解析が必要になります。これは、異種材料あるいは、介在物や析出物の検出および解析に特に有用です。DualBeam(集束イオンビーム–走査電子顕微鏡、FIB-SEM)装置では、連続断面加工法(SEM観察およびFIB加工の連続適用)により、ナノメートルレベルの分解能で高品質な三次元データセットを取得できます。

プラズマFIB(PFIB)

しばしば、大きな試料による全容のデータから判断された代表的で統計的な結果を得るために、一般的なガリウムFIB装置では不可能な容量のデータが必要になることがあります。Thermo Scientific Helios 5 PFIB DualBeamThermo Scientific Helios Hydra DualBeamなどのプラズマFIB装置では、その優れた高電流特性を活かし、高品質かつボリュームの大きな3次元データをさまざまなモダリティで完全自動取得することが可能です。さらに、Helios Hydra DualBeamの複数のイオン源技術により、特定の試料毎に、また使用事例每に適したイオン源を選択できます。

プラズマFIB連続加工法では、材料のコントラスト(後方散乱電子イメージング)、組成情報(EDS)、および微細構造と結晶構造情報(電子後方散乱回折)に関する情報を提供します。これらのデータは、Thermo Scientific Avizoソフトウェアを使用して可視化できます。このソフトウェアは、ナノメートルスケールで得られ、最高の分解能で高度な三次元特性評価と分析を実現する、独自のワークフローを提供します。

レーザーPFIB

Thermo Scientific Helios 5レーザーPFIBシステムでは、通常のプラズマFIBでは不可能な広範囲の断面撮影や3次元解析が可能で、ミリメートルスケールまでの3次元解析を実施できます(粗加工速度はガリウムFIBより>15,000倍高速)。また、チャージアップしやすい材料やビームに敏感な材料など、イオンビームによる加工が困難な材料でも、最小限のダメージで処理できます。

Zircally sample 3d EBSD reconstruction produced with the Helios DualBeam.
Helios PFIB DualBeam、Auto Slice & View 4ソフトウェア、Avizoソフトウェアにより取得したジルカロイ試料(250×250×220 µm³)の3D EBSD再構築。

リソース

Helios Hydra DualBeamでイメージングされ、Avizoソフトウェアで三次元再構築された自動車用のオイルフィルター枠(ポリマー/ガラス繊維の複合材料)。視野範囲は350 µmです。

Helios Hydra DualBeamでイメージングされ、Amiraソフトウェアで三次元再構築された包埋された組織試料。Helios Hydra DualBeamはこのような有機材料の高品質な三次元解析にも有効です。

Helios Hydra DualBeamでイメージングされ、Avizoソフトウェアで三次元再構築された自動車用のオイルフィルター枠(ポリマー/ガラス繊維の複合材料)。視野範囲は350 µmです。

Helios Hydra DualBeamでイメージングされ、Amiraソフトウェアで三次元再構築された包埋された組織試料。Helios Hydra DualBeamはこのような有機材料の高品質な三次元解析にも有効です。

応用例

電子顕微鏡を使用した品質管理と不良解析

品質管理と不良解析

近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。

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基礎材料研究

新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。

 


サンプル


電池の研究

SEM、TEM、microCT、ラマン分光、XPS、および3次元データの可視化と解析により、マルチスケールの情報を得られます。これは電池の開発に大きく貢献します。どうやってもっと優れた電池を開発するための構造情報および組成情報を提供するかをご覧ください。

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高分子材料の研究

高分子材料の微細構造によって、材料のバルク特性と性能が決まります。電子顕微鏡法により、R&Dおよび品質管理のアプリケーションにおける、ポリマーの形態および組成の包括的なマイクロスケール分析が可能になります。

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金属材料の研究

金属材料を効果的に生産するには、介在物および析出物を正確にコントロールする必要があります。当社の自動化ソリューションを利用することで、ナノ粒子の計数、EDS元素分析、TEM試料作製など、金属分析に不可欠なさまざまなタスクを実行できます。

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石油およびガス

石油およびガスの需要が続く中で、炭化水素を効率的かつ効果的に抽出する必要があります。サーモフィッシャーサイエンティフィックは、さまざまな石油科学アプリケーションに対応する、幅広い顕微鏡および分光法ソリューションを提供しています。

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繊維およびフィルター

合成繊維の直径、形態、密度は、フィルターの寿命と機能性を決定する重要なパラメーターです。走査電子顕微鏡法(SEM)は、これらの特徴を迅速かつ容易に調査するための理想的な手法です。

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地質学研究

地球科学は、岩石試料内の構造特徴の正確なマルチスケール観察に頼っています。SEM-EDSを自動化ソフトウェアと組み合わせることで、岩石学および鉱物学の研究におけるテクスチャおよび鉱物組成の直接的かつ大規模な分析が可能になります。

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製品

Style Sheet for Instrument Cards Origin

Helios 5 Laser PFIB

  • ミリメートルスケールの高速な断面加工
  • 統計的に重要な深部までの表面下3Dデータ解析
  • Helios 5 PFIBのすべての機能を利用可能

Helios Hydra DualBeam

  • 幅広い材料に適したプラズマFIB処理を行うため、高速切り替え可能な4種類のイオン源(Xe、Ar、O、N)
  • GaフリーのTEM試料作製
  • 超高分解能SEMイメージング

Helios 5 DualBeam

  • 完全に自動化された高品質の超薄TEM試料作製
  • 高速かつ高分解能の表面下3D解析
  • 迅速なナノプロトタイピング機能

Helios 5 PFIB DualBeam

  • GaフリーのSTEMおよびTEM試料作製
  • 多様な表面下情報と3D情報
  • 次世代の2.5 µAキセノンプラズマFIBカラム

Scios 2 DualBeam

  • 磁気試料および非導電性試料に完全に対応
  • ハイスループットの表面下3D解析
  • 先進の使いやすさと自動化機能

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM

  • SEMとEDSを統合
  • 操作性
  • サブマイクロメートルサイズの介在物

Avizo Software
材料科学

  • マルチデータ/マルチビュー、マルチチャンネル、時系列、非常に大きなデータのサポート
  • 高度なマルチモード2D/3D自動位置合わせ
  • アーチファクト削減アルゴリズム

Maps Software

  • 広領域の高分解能画像を取得
  • 関心領域を容易に発見
  • 画像取得プロセスを自動化
  • 異なる機器で得られたデータを相関

Phenom 3D Reconstruction Software

  • 直感的なユーザーインターフェースにより、最大限のエンプロイアビリティーを実現します
  • 直観的で完全自動化されたユーザーインターフェース
  • 「シェイディングからの形状」技術に基づいており、ステージ傾斜は不要です

µHeater

  • 高分解能in-situイメージング用の超高速加熱実験ソリューション
  • 完全に統合
  • 最高温度1200℃

オートスライス&ビュー 4.0ソフトウェア

  • DualBeam用の自動連続断面加工
  • 多種類の分析データを同時に取得(SEM、EDS、EBSD)
  • データ取得中の編集機能
  • エッジベースのカット位置制御
Style Sheet for Komodo Tabs
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class

お問い合わせ

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