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SEMでの鉱物同定
地球科学ほどマルチスケール観察と組織同定が必要な分野はありません。地殻の断層運動の理解から効率的な地下資源の採掘方法に至るまで、地球のことを知るためには正確なサンプルの同定や解析が必要です。
弊社では、マルチスケール観察と多様性に富んだ試料の分類といった一連のルーチンワークに対して、データの収集から可視化、分析を容易に行えるソフトウェアグループをご提供しています。
岩石学および鉱物学
正確な組織分析とその組織内部における鉱物の分布は、地殻を物理的、化学的に正確に解釈するための大きな手掛かりになります。鉱物学での自動測定において走査型電子顕微鏡法とエネルギー分散型X線分光法を組み合わせた手法（SEM-EDS）は、鉱業や鉱物加工産業での高分解能イメージや化学的マップを取得する一般的な方法としての地位を確立しています。サーモフィッシャーサイエンティフィックは、30年にわたり市場をリードするSEM-EDSテクノロジーを提供してきました。ここでは、当社の岩石学および鉱物学ソリューションがもたらす利点をいくつか紹介します；
- 岩石学的および鉱物学的分析のルーチンワークを効率化し、処理個数が増加します。
- 自動分析によって膨大な数の鉱物含有量をデータベース化できます。
- 自動で正確な鉱物同定が可能です
- 試料情報と関連する鉱物をデータベース化できます。
- EDS組成分析、高分解能画像と鉱物学的解釈から深い考察が可能になります。
- 検体数が増えることによって定量的な解釈が可能になります。
地球科学ソフトウェアによるマルチスケール分析
地質学や組織解釈に特に重要な、全体から細部までの一貫した解釈が可能になります。SEM高分解能観察では低倍像であっても細部まで高品質な画像が一度に取得できるので、多様性に富んだ組成と組織を直接解釈することが可能です。さらに詳細な画像を得るためには高倍で観察が有効ですが、観察視野は狭くなってしまいます。
高倍観察と広い視野を両立するために、複数の画像を自動で連結する機能を開発いたしました。Thermo Scientific Mapsソフトウェアは、当社の電子顕微鏡イメージングプラットフォームの全ての装置に共通したクロスプラットフォーム対応の自動化エンジンです。このソフトウェアは、使いやすく直感的な操作によって簡単に大きな結合画像を作成することができます。
- 低倍から高倍まで常にクリアな画像が、取得から結合処理まで自動で行うことが可能です。
- 生産性向上に大きく寄与することが期待できます。
- 欲しい全ての情報を、より短時間、より効率よく御提供致します。
斜長石試料の化学的ゾーニング。曹長石は紺色、曹灰長石は水色で示されている。
砂岩試料のマルチスケール分析。左側の画像はmicroCTデータセットからの断面。右側の3つの画像は、細孔中の粘土鉱物学を調査した後続のSEM分析のもの。
主要な岩石タイプの断面図。さまざまな鉱物や構造の分布が確認できる。
岩石の断面の表面分析。SEM-EDS分析であれば単一の鉱物学的データセットからでも、テクスチャーと組成に関する豊富なストーリーを引き出すことができる。
X線マイクロトモグラフィー（microCT）とSEMによるコアプラグのマルチスケール分析。初期状態の試料と抽出されたミニプラグを、HeliScan microCTで画像化。その後、ミニプラグの断面をSEMで画像化。SEMデータとの相関が示されており、セグメント化にはAvizoソフトウェアを使用。
斜長石試料の化学的ゾーニング。曹長石は紺色、曹灰長石は水色で示されている。
砂岩試料のマルチスケール分析。左側の画像はmicroCTデータセットからの断面。右側の3つの画像は、細孔中の粘土鉱物学を調査した後続のSEM分析のもの。
主要な岩石タイプの断面図。さまざまな鉱物や構造の分布が確認できる。
岩石の断面の表面分析。SEM-EDS分析であれば単一の鉱物学的データセットからでも、テクスチャーと組成に関する豊富なストーリーを引き出すことができる。
X線マイクロトモグラフィー（microCT）とSEMによるコアプラグのマルチスケール分析。初期状態の試料と抽出されたミニプラグを、HeliScan microCTで画像化。その後、ミニプラグの断面をSEMで画像化。SEMデータとの相関が示されており、セグメント化にはAvizoソフトウェアを使用。
基礎材料研究
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
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3D材料解析
多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。
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EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
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3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
断面加工
断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
3D材料解析
多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
断面加工
断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。
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材料科学向けの
電子顕微鏡サービス
最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。
