STEM | Talos F200X G2 TEM | Thermo Fisher Scientific

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Talos F200X G2透過型電子顕微鏡

Thermo Scientific Talos F200X STEMは、優れた高分解能STEMおよびTEMイメージングと業界をリードするエネルギー分散型X線分光法（EDS）を組み合わせた走査透過型電子顕微鏡です。組成マッピングによる2次元／3次元の化学分析は、4つのインカラムSDD Super-X検出器によって行われ、高品質のEDSスペクトルを提供します。Talos F200X走査透過型電子顕微鏡は、あらゆる次元で高速かつもっとも正確なEDS分析、およびダイナミック観察のための高速ナビゲーションによる高分解能TEMおよびSTEM（HRTEM、HRSTEM）イメージングを可能にします。Talos F200X走査透過型電子顕微鏡は環境に対する安定性を追求し、エンクロージャの採用により、TEM室のわずかな温度変化、空気の流れなどの影響を低減します。

STEMイメージングおよび元素分析

Talos F200X (S)TEMでは、ナノ材料の多次元的な解析を高速、高精度、かつ定量的に行うことができます。スループット、精度、使いやすさを追求して設計された革新的な機能を備えたTalos F200X (S)TEMは、学術研究、政府機関研究、半導体および産業研究環境における高度な研究と分析に最適です。

近年では高解像度で広領域の相関イメージングの必要性が高まっています。研究者は、統計的に安定的なデータを取得すると同時に、観察、解析のデータセットを保存できるからです。Thermo Scientific Mapsソフトウェア（Thermo Scientific Veloxソフトウェアにより実現）は、試料全体で一連の画像を自動的に取得し、それらをつなぎ合わせて1つの大きな最終画像を作成します。画像取得は無人で実行することもできます。このセクションで説明するすべての利点を備えるAPW（自動粒子解析ワークフロー）パックは、Thermo Scientific Avizo2Dソフトウェア専用の処理PCで独自の処理を行います。サイズ、面積、周囲長、形状、因子などのナノ粒子パラメータを自動化された処理で取得できます。完全自動化・無人化ソフトウェアパックにより、24時間365日Talos F200X (S)TEMを使用できます。また、オペレーターの経験に依存しないため、より優れた統計データを取得し、再現性を大幅に向上できます。

Align Genie自動アライメントソフトウェアは、初心者をサポートし、経験豊富なエキスパートのデータ取得までの時間を短縮し、マルチユーザー環境に最適です。

Talos F200X G2透過型電子顕微鏡の特長

高分解能電界放出電子銃（FEG）の選択

高輝度X-FEGまたは超高輝度冷陰極型電界放出電子銃（X-CFEG）を選択できます。X-CFEGは、最高レベルの(S)TEMイメージングを最高レベルのエネルギー分解能を兼ね備えています。

直感的に使用できるソフトウェア

Thermo Scientific Veloxソフトウェアにより、マルチモーダルデータの取得と解析を迅速かつ簡単に行うことができます。

元素組成までの時間を短縮します

迅速かつ正確なEDS定量分析により、ナノスケールで2Dおよび3D解析を行うことができます。

優れた画像データ

複数の信号を同時に検出する高スループットSTEMイメージングにより、優れたコントラストで高品質な画像を取得できます。

可能性を拡げるポールピースギャップ

動的実験アプリケーション専用のin situ試料ホルダーを追加できます。

高品質(S)TEM画像と高精度EDS

革新的で直感的に使用できるVeloxソフトウェアにより、高品質TEM像およびSTEM像を取得できます。Veloxソフトウェア独自のEDS吸収補正により、高精度の定量が可能です。

再現性の高いデータ収集

フォーカス、ユーセントリック高さ、ビームシフト、コンデンサ絞り、ビーム傾斜ピボットポイント、ローテーションセンターなどの日常的なTEM調整はすべて自動化されており、いつでも最適なイメージング条件で使用できます。測定を再現性よく繰り返すことができるため、装置の操作に気を取られることなく、研究に集中することができます。

生産性の向上

高速なモード切替および加速電圧（HT）変更に対応したコンスタントパワー対物レンズを使用した、きわめて安定したカラムとSmartCamカメラによるリモート操作。マルチユーザー環境向けの迅速で簡単な切り替え。

仕様

Style Sheet for Products Table Specifications

HRTEM線分解能	≦0.10 nm
STEM分解能	≤0.16 nm （X-FEG） ≤0.14 nm（X-CFEG）@100 pA
Super-X EDSシステム	4つのSDDが対称配置されたデザイン、ウィンドウレス、シャッター保護
電子エネルギー損失分光（EELS）エネルギー分解能	≤0.8 eV（X-FEG） ≤0.3 eV（X-CFEG）
輝度＠200 kV	1.8×10⁹ A/cm² srad （X-FEG） 2.4×10⁹ A/cm² srad （X-CFEG）