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Thermo Scientific Talos F200C (S)TEMは、20~200 kVの熱電子(走査)透過型電子顕微鏡で、細胞、オルガネラ、アスベスト、ポリマー、ソフトマテリアルなどの、2Dおよび3Dイメージングを常温および極低温で行うことができ、幅広い試料およびアプリケーションで高性能と高生産性を実現するように設計されています。
オプションの電動リトラクタブルクライオボックスおよびロードーズ技術により、ビームに敏感な材料のイメージング品質を向上できます。さらに、サイドエントリ型のリトラクタブルエネルギー分散分光法(EDS)検出器を追加して、化学分析を行うこともできます。大きなC-Twinポールピースギャップは、高いアプリケーション柔軟性を提供し、再現性の高い電子カラムと組み合わせることで、高分解能3D解析、in situ動的観察、およびその他の回折アプリケーション、特に、高コントラストイメージングやクライオTEMに重点を置いたアプリケーションの新たな可能性を提供します。Talos F200C (S)TEMは、64ビットプラットフォーム上で広い視野と高感度の高速イメージングを実現する、高速4k × 4k Thermo Scientific Ceta 16Mカメラを搭載しています。
Thermo Scientific Maps ソフトウェアを使用することで、試料全体のイメージによる直感的なナビゲーションができ、それぞれのイメージング装置のデータを簡単に相関させることができます。高分解能で広領域のイメージングを取得するために、Mapsソフトウェアは自動的に画像を取得してステッチし、解析の領域全体を高品質で記録します。Mapsソフトウェアは、システム内だけでなく異なる装置間でも使用できます。SEMや光学顕微鏡など、他の顕微鏡からの画像のインポート、オーバーレイ、アライメントをサポートします。これにより、相関性のある低倍率TEMやSEMから高分解能TEM(HRTEM)へのデジタルズームが可能になり、価値の高い試料全体の構造情報が得られます。
最大4チャンネルの統合STEM検出器を用いた同時マルチ信号検出による、高コントラストで高品質なTEMおよびSTEMのイメージング。
フォーカス、試料の高さ、ビームシフト、コンデンサー絞りの位置、ローテーションセンターなどのすべての日常TEM調整が自動化されています。
高速モードおよび加速電圧変更に対応するコンスタントパワー対物レンズを使用したきわめて安定したカラムとSmartCamによるリモート操作。マルチユーザー環境向けの高速で簡単なモード切り替え。
フレキシブルなEDS分析により、化学情報が明らかになります。
ワイドな分析用ポールピースギャップ、180°のステージ傾斜範囲、および大きなZ範囲により、トモグラフィーホルダー、in situ試料ホルダーなどを使用できます。
4k × 4k Ceta CMOSカメラの広い視野角により、全加速電圧範囲に渡って高感度かつ高速のライブデジタルズームが可能です。
TEM情報限界 |
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TEM点分解能(nm) |
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STEM分解能(nm) |
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近年の産業では、確かなプロセス制御によって維持される優れた品質とスループットの両立が求められています。専用の自動化ソフトウェアを搭載したSEMおよびTEMツールは、プロセスモニタリングおよびプロセス改善のための迅速なマルチスケール情報を提供します。
近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
エネルギー分散分光法
エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。
3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
電子エネルギー損失分光法
高分解能EELSは、材料科学研究の幅広い分析アプリケーションに対応します。EELSを利用することで速くて高S/N比の元素マッピング、酸化状態の確認や表面フォノンの解析などが可能です。
In situ試験
加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
自動NanoParticleワークフロー(APW)は、ナノ粒子分析用の透過型電子顕微鏡ワークフローです。広領域のナノスケール高分解能イメージングとデータ取得、およびその場での処理を行えます。
エネルギー分散分光法
エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。
3D EDSトモグラフィー
現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。
EDS元素分析
EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。
EDSによる原子分解能元素マッピング
原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。
電子エネルギー損失分光法
高分解能EELSは、材料科学研究の幅広い分析アプリケーションに対応します。EELSを利用することで速くて高S/N比の元素マッピング、酸化状態の確認や表面フォノンの解析などが可能です。
In situ試験
加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。
粒子解析
粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。
マルチスケール分析
新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。
自動NanoParticleワークフロー(APW)は、ナノ粒子分析用の透過型電子顕微鏡ワークフローです。広領域のナノスケール高分解能イメージングとデータ取得、およびその場での処理を行えます。
最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。