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石油およびガスの需要が増加し、埋蔵量が減少するにつれ、炭化水素化合物の効率的かつ効果的な抽出がこれまで以上に重要になっています。ルーチンのコアプラグのスクリーニングから高度な多相フローモデリングに至るまで、サーモフィッシャーサイエンティフィックは、石油とガスの研究および解析のための正確で徹底したソリューションを提供します。新しくデジタル岩石分析ラボを開設する場合にせよ、既存の解析機能を拡張する場合にせよ、当社であれば秘められた可能性を最初から最大化するのに必要な機器、ソフトウェア、専門知識を提供できます。

コアプラグのスクリーニング

コア分析試験には多額の投資が必要となりますので、特殊なコア分析および地質学的検査を行う前にコアプラグの品質を評価することにより、リザーバーエンジニア、油層岩石物理学者、地質学者が、さらなる分析に進む前に、正確で標準試料に資するデータを取得できます。

高分解能イメージングは、試料の内部構造を検査する非侵襲的な方法を提供します。Thermo Scientific HeliScan microCT(マイクロコンピューター断層撮影)は、一回の連続ヘリカルX線スキャンによってコアプラグの3D再構成を行えます。ノイズを低減し信号を増幅する高度な再構成アルゴリズムの助けを得て、従来のmicroCTスキャンより忠実度の高い画像が得られます。これらのコアプラグの3D画像は、油層岩石物理学者や地質学者が多元的な岩石分類を実施するのに役立ち、層構造、油層率、流体フロー、およびワイヤーライン検層の応答結果の理解を向上させます。

  • 試料の不均質性を迅速に評価
  • 試料汚染の評価(掘削液の侵入など)
  • 構造的完全性を判断(掘削によるダメージがない)
  • 微細破壊の存在と範囲を特定

リザーバーの品質分析

あらゆる作業者が、地下数百mのコアを、多数の切削物や薄片とともに倉庫に保管しています。3Dおよび2D画像からなるこれらの試料のデジタルライブラリによって、以前に取得したボーリングコアを調べることで、再生画像を評価するための迅速かつ統計的に安定な手法が地質学者に提供されます。これらのデジタル岩石モデルとは、画像解析および可視化ソフトウェアを介して、全コアのコンピュータトモグラフィー、microCT、光学および走査電子顕微鏡(SEM)、ならびにDualBeam技術(集束イオンビームおよびSEM)によるデータを統合したものです。従来の方法では、それぞれの状況や考察を付けずに結果が得られるため、これらの個々の観察結果は孤立したものでした。デジタル岩石モデリングによれば、分析および解析機能に加え、情報をアーカイブして迅速に共有する機能が提供されます。もっとも重要なことは、観察された特性をリザーバーの基本的な性質にリンクさせることです。

  • 正確な粘土のスペシエーションとテクスチャのコンテキスト情報を単一の方法で取得
  • 一貫性のある客観的分析を可能にする自動ワークフローをセットアップ
  • 結果の正確性がもたらす信頼
Core plug analyzed with a multi-modal approach revealing oil, porosity, and mineralogy.
多孔性、鉱物、油分含有物の自動同定を用いた、コアプラグのマルチモーダル分析。

マルチスケール分析

リザーバーの岩石には、異物や積層物が多く存在します。このようなリザーバーから炭化水素化合物を最大限に回収するには、岩石の微細構造を正確に解析することが必要です。これには、個々の岩石の種類や積層物を理解するだけでなく、リザーバーを構成するさまざまな種類の岩石の相互作用も含まれます。生成されてくる液体の種類と量を決定するには、表面の多孔性、浸潤、および水和性の解析が重要です。残念ながら、単一のイメージングツールでは、μmオーダーでの間隙のつながり具合と、もっと広い視野での特徴の両方を決定できません。

これらの従来型とは異なるシステムで完全に解析するには、マルチスケールのマルチモードでのイメージングが必要です。サーモフィッシャーサイエンティフィックは、X線トモグラフィーと顕微鏡によるイメージングを、元素分析用のエネルギー分散型X線分析(EDS)に関連付けるソフトウェアのソリューションを提供しています。このツールの組み合わせによって、間隙構造のつながり具合に関する、マイクロスケールの観察結果を、サブナノメートルスケールに3D可視化して関連づけできます。また、水和性およびin situ液体飽和の情報も生成されるため、顕微鏡レベルの結果をコアプラグおよびログスケールに高めることができます。

  • 機能の分布をスケール全体で正確に追跡
  • 代表的な定量解析のため、統計的に有効なデータセットを作成
  • 客観的な取得および分析の自動化ワークフローを簡単に生成
Core plug analyzed with microCT and SEM at multiple scales.
コアプラグのマルチスケール分析を、ミリメートルスケールのmicroCT分析からマイクロメートルのSEMイメージングまで、2つの関心領域について実施。

リソース

応用例

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

基礎材料研究

新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。

 


手法

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3D材料解析

多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。

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エネルギー分散分光法

エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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3D EDSトモグラフィー

現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。

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環境制御型SEM(ESEM)

環境制御型SEMにより、材料を本来の状態で観察できます。これは、ウェットな、汚れている、反応性のある、ガス放出があるなどの真空に適さない試料を扱う研究者に最適です。

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断面加工

断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。

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マルチスケール分析

新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。

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3D材料解析

多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。

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エネルギー分散分光法

エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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3D EDSトモグラフィー

現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。

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環境制御型SEM(ESEM)

環境制御型SEMにより、材料を本来の状態で観察できます。これは、ウェットな、汚れている、反応性のある、ガス放出があるなどの真空に適さない試料を扱う研究者に最適です。

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断面加工

断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。

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マルチスケール分析

新しい材料の場合、その構造全体を把握しながら、高い分解能で分析する必要があります。マルチスケール分析では、X線マイクロCT、DualBeam、レーザーPFIB、SEM、TEMなどのさまざまなイメージング技術や方法の相関が可能です。

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製品

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Helios Hydra DualBeam

  • 幅広い材料に適したプラズマFIB処理を行うため、高速切り替え可能な4種類のイオン源(Xe、Ar、O、N)
  • GaフリーのTEM試料作製
  • 超高分解能SEMイメージング

Helios 5 PFIB DualBeam

  • GaフリーのSTEMおよびTEM試料作製
  • 多様な表面下情報と3D情報
  • 次世代の2.5 µAキセノンプラズマFIBカラム

Helios 5 DualBeam

  • 完全に自動化された高品質の超薄TEM試料作製
  • 高速かつ高分解能の表面下3D解析
  • 迅速なナノプロトタイピング機能

Scios 2 DualBeam

  • 磁気試料および非導電性試料に完全に対応
  • ハイスループットの表面下3D解析
  • 先進の使いやすさと自動化機能

Quattro ESEM

  • 独自の環境機能(ESEM)を備えた超多用途の高分解能FEG SEM
  • 全操作モードのSEとBSE信号の同時取り込みによって、試料からすべての情報を獲得します

Apreo 2 SEM

  • ナノメートルまたはサブナノメートルの分解能を備えたオールラウンドな高性能SEM
  • 高感度なテレビ品質の画像コントラストを実現するインカラムT1反射電子検出器
  • 長い作動距離(10 mm)で優れた性能を発揮

Nexsa G2 XPS

  • マイクロフォーカスX線源
  • 独自の追加可能なオプション
  • 単原子およびクラスターイオンデプスプロファイリング用のデュアルモードイオン源

ESCALAB Xi+ XPS

  • 高いスペクトル分解能
  • マルチテクニックによる表面分析
  • 試料作製および拡張のための豊富なオプション

K-Alpha XPS

  • 高分解能XPS
  • 高速で効率的な自動ワークフロー
  • イオン源を用いたデプスプロファイリング

Maps Software

  • 広領域の高分解能画像を取得
  • 関心領域を容易に発見
  • 画像取得プロセスを自動化
  • 異なる機器で得られたデータを相関

Athena Software
イメージングデータ管理

  • 画像、データ、メタデータ、試験ワークフローのトレーサビリティを確保
  • イメージングワークフローの単純化
  • コラボレーションの向上
  • データアクセスの安全性と管理

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お問い合わせ

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材料科学向けの
電子顕微鏡サービス

最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。