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フィルターは今日の社会では一般的なものとなっており、クリーンで呼吸を可能にする空気を供給するエアフィルターや、安全な飲料水を確保するウォーターフィルターなど、産業や家庭において重要な機能を果たしています。

高性能なろ過処理の鍵となるのは、合成繊維の開発です。フィルターの設計を最適化し、広範な乾燥粒子や湿潤粒子を長期にわたってろ過し続けるには、繊維の直径、密度、表面形態などの特徴をすべて徹底的に解析し、最適化する必要があります。

光学顕微鏡や原子間力顕微鏡(AFM)などの従来の繊維分析法では、すべての分析を行うことは不可能でした。光学顕微鏡はナノファイバーの正確な研究に必要な分解能を欠いており、一方AFMは遅すぎる上に物理的なプローブの問題に悩まされてしまいます。これらのメソッドは、時間のかかる手動による測定とデータ分析にも依存したものです。

一方、走査電子顕微鏡(SEM)は優れた分解能を提供し、同時に複数の繊維の特性を自動的に解析できます。先進の自動化ソフトウェアを追加することで、重要なフィルターパラメーターを迅速かつ確実に抽出できます。これにより、ラボでSEMを使用する時間が最小限に抑えられ、さらに繊維を迅速かつ簡単に分析できるため、ろ過設計のための開発スループットが向上します。

サーモフィッシャーサイエンティフィックは、繊維分析用のさまざまなSEM装置を提供しています。Thermo Scientific FiberMetricソフトウェアと組み合わせることで、マイクロファイバーおよびナノファイバーの特性を正確に自動測定できます。

Electrospun imaged with Phenom Desktop SEM.
エレクトロスピニングで処理された紙基板上のナノファイバーをPhenomデスクトップSEMで画像化。
Dust filter imaged with Phenom Desktop SEM.
ダストフィルター由来の繊維をPhenomデスクトップSEMで画像化。

リソース

応用例

電子顕微鏡を使用したプロセス制御

電子顕微鏡を使用したプロセス制御

近年の産業では、確かなプロセス制御によって維持される優れた品質とスループットの両立が求められています。専用の自動化ソフトウェアを搭載したSEMおよびTEMツールは、プロセスモニタリングおよびプロセス改善のための迅速なマルチスケール情報を提供します。

 

電子顕微鏡を使用した品質管理と不良解析

品質管理と不良解析

近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。

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基礎材料研究

新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。

 

Style Sheet for Komodo Tabs

手法

3D材料解析

多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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ChemiSEM

ChemiSEM技術は、ライブEDS(エネルギー分散型X線分光法)とライブ定量を使用して、SEM画像をカラー化します。どのユーザーでも、組成のデータを継続的に取得して、これまで以上に詳細な情報を得ることができます。

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断面加工

断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。

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3D材料解析

多くの場合、材料の開発にはマルチスケールの3D解析が必要です。DualBeam装置により、大量の連続スライスと、その後のナノメートルスケールでのSEMイメージングが可能となり、試料の高品質な3D再構成処理を行うことができます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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ChemiSEM

ChemiSEM技術は、ライブEDS(エネルギー分散型X線分光法)とライブ定量を使用して、SEM画像をカラー化します。どのユーザーでも、組成のデータを継続的に取得して、これまで以上に詳細な情報を得ることができます。

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断面加工

断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。

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製品

Style Sheet for Instrument Cards Origin

Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

  • 1~20 kVの加速電圧範囲を有する電界放出型電子銃
  • 20 kVで2.0 nm(SE)および3.0 nm(BSE)未満の分解能
  • EDS検出器およびSE検出器の完全一体型(オプション)

Phenom XL G2 Desktop SEM

  • 大容量の試料(100 × 100 mm)に対応し、自動データ取得に最適
  • 10 nm未満の分解能、最大倍率200,000倍、加速電圧4.8 kV~20 kV
  • EDS検出器およびBSE検出器の完全一体型(オプション)

Phenom Pro G6 Desktop SEM

  • 高性能卓上SEM
  • 6 nm未満(SE)および8 nm未満(BSE)の分解能、最大倍率350,000倍
  • オプションのSE検出器

Phenom ProX G6 Desktop SEM

  • EDS検出器を搭載した高性能デスクトップSEM
  • 6 nm未満(SE)および8 nm未満(BSE)の分解能、最大倍率350,000倍
  • オプションのSE検出器

Phenom Pure G6 Desktop SEM

  • 一般用の卓上SEM
  • 15 nm未満の分解能、最大倍率175,000倍
  • 長寿命CeB6電子銃

Phenom ParticleX AM Desktop SEM

  • 積層造形用の自動化ソフトウェアを備えた汎用卓上SEM
  • 10 nm以下の分解能、最大倍率200,000倍
  • オプションのSE検出器

Phenom ParticleX TC Desktop SEM

  • 清浄度検査のための自動化ソフトウェアを備えた汎用卓上SEM
  • 10 nm以下の分解能、最大倍率200,000倍
  • オプションのSE検出器

Phenom Perception GSR Desktop SEM

  • 専用の自動GSR卓上SEM
  • 10 nm以下の分解能、最大倍率200,000倍
  • 長寿命CeB6電子銃

Nexsa G2 XPS

  • マイクロフォーカスX線源
  • 独自の追加可能なオプション
  • 単原子およびクラスターイオンデプスプロファイリング用のデュアルモードイオン源

K-Alpha XPS

  • 高分解能XPS
  • 高速で効率的な自動ワークフロー
  • イオン源を用いたデプスプロファイリング

ESCALAB Xi+ XPS

  • 高いスペクトル分解能
  • マルチテクニックによる表面分析
  • 試料作製および拡張のための豊富なオプション

Phenom AsbestoMetric Software

  • 画像取得、ファイバー検出、およびレポート作成用の自動化ツール
  • ファイバーのリビジッドによるEDS分析の支援
  • アスベスト分析に関するISO規格レポート

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お問い合わせ

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電子顕微鏡サービス

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