卓上SEM | Phenom ParticleX AM | Thermo Fisher Scientific

主な特長

仕様

Thermo Scientific™ Phenom ParticleX™卓上走査型電子顕微鏡（SEM）は、アディティブマニュファクチャリング用に設計された多目的卓上SEMで、マイクロスケールでの純度を実現します。

データを社内で管理：

金属粉末の重要な特性をモニタリング
パウダーベッドおよび粉末供給方式の製造プロセスに適用
粒径分布、個々の粒子形態、および異物を同定

卓上SEM Phenom ParticleX AMは、最大100 mm x 100 mmの大きな試料の分析を可能にする試料室を備えています。特許取得済みの試料真空導入技術により、世界最速の真空排気／試料導入サイクルを実現し、最高のスループットを実現します。

Thermo Scientific Phenom ParticleX AMデモ

主な特徴

一般的SEMとしての使用

卓上SEM ParticleX AMは、正確で高速な電動ステージを搭載した試料室を備えており、最大100 mm ｘ100 mmの試料を分析できます。試料サイズが比較的大きいにもかかわらず、特許取得済みの試料真空導入技術により、真空排気／試料導入サイクルを、業界トップの60秒以下の試料導入時間に抑えられます。実際に、スループット・ファクターが他のSEMシステムよりも大きくなります。

アディティブマニュファクチャリング

卓上SEM ParticleX AMは、最小および最大直径、周囲長、アスペクト比、粗さ、およびフェレー径など、さまざまなサイズおよび形状のパラメーターを測定します。これらはすべて、10％、50％、90％の値（例：d10、d50、d90）で表示できます。

元素マッピングおよびラインスキャン

ユーザーは、クリックするだけで、卓上SEM ParticleX AMの元素マッピングおよびラインスキャン機能を操作できます。ラインスキャン機能は、ライン上の元素の濃度分布を表示します。これは、エッジ、コーティング、断面などを分析するため、複数の層を持ったコーティング、塗料、およびその他のアプリケーションに対して特に有用です。

二次電子検出器

オプションで、卓上SEM ParticleX AMで二次電子検出器（SED）を使用できます。SEDは、試料の上部表面層から低エネルギー電子を収集します。そのため、詳細な試料表面情報を明らかにするのに最適です。SEDは、トポグラフィーや形態が重要なアプリケーションに最適です。こうしたことは、微細構造、繊維、粒子を研究する場合によく見られます。

工業生産製品選択ツール

製品セレクターは、お客様の研究に最適な走査型電子顕微鏡（SEM）システムとソフトウェアを選択するのに役立ちます。お客様の研究用途に最適なSEMが、数分で見つかります。

最適な卓上SEMを見つける

仕様

Style Sheet for Products Table Specifications

電子光学系	長寿命の電子銃（CeB₆）ビーム電流可変
電子顕微鏡倍率	160～200,000倍
光学ナビゲーション倍率	3～16倍
分解能	<10 nm
画像解像度	960ｘ600、1920ｘ1200、3840ｘ2400および7680ｘ4800ピクセル
加速電圧	デフォルト：5 kV、10 kV、15 kV アドバンスモード：4.8 kV～20.5 kVの範囲で調整可能
真空度	低ー中ー高
検出器	エネルギー分散型X線分析（EDS）装置（標準）二次電子検出器（オプション）
試料サイズ	最大100 mmｘ100 mm（12 mmのピンスタブ最大36個）最大40 mm（h）
試料の導入時間	光学像<5秒 SEM像<60秒

Style Sheet for Media Tabs

デスクトップSEMブログ

使いやすさを犠牲にすることなく、走査電子顕微鏡の優れた能力を活用できます。走査電子顕微鏡の詳細情報と、デスクトップSEMが最適な方法で研究を補助できる理由を、PhenomデスクトップSEMブログでご確認ください。

詳細を見る

Automatically acquired SEM image cobalt powder grouping printing material additive manufacturing

Automatically acquired SEM image cobalt-based powder grouping printing material Additive Manufacturing.

Irregular Co powder defective particles automated acquisition SEM image cobalt printing material additive manufacturing

Irregular Co based powder particle automatically acquired and analyzed by Phenom ParticleX AM Desktop SEM.

Screenshot Elemental Mapping

SEM image of smartphone

SEM image of textile

SEM image of cable

SED image taken with Phenom ParticleX AM Desktop SEM.

新しいPhenom ParticleXについてAlexander Bouman氏。
品質管理の専門家をサポートするために、Phenom ParticleXには、アディティブマニュファクチャリング用のPhenom ParticleX AMと、清浄度検査用のPhenom ParticleX TCの2つのモデルがあります。

Watch Phenom ParticleX Desktop SEM: Quality Starts at the Microscale

Watch this on-demand webinar to learn how Phenom ParticleX desktop SEMs are the ideal solution for:

ISO 16232 and VDA-19 Compliance for Technical Cleanliness.
ISO 4406 and ISO 4407 for contamination of hydraulic fluids.
Particle morphology for additive manufacturing feedstocks.
Workflow examples for particle classifications and reporting.

e-learning：走査型電子顕微鏡：お客様のニーズに合った適切な技術を選択します

このオンデマンドのe-learningは、お客様独自のニーズに最適なSEMを決定するのに役立つよう設計されています。当社は、マルチユーザー研究ラボ向けのサーモフィッシャーサイエンティフィックSEM技術の概要を説明し、これらの幅広いソリューションがどのように性能、汎用性、in situダイナミクスを提供し、結果を得るまでの時間を短縮するかに焦点を当てています。ご興味のある方は、以下のe-learningをご覧ください。