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DPCイメージング
現在のエレクトロニクス研究では、電気的および磁気的特性をナノメートルスケールで解析することが必要とされます。これには、微分位相コントラストSTEM（DPC-STEM）法は最適な手法です。試料内および試料周辺の磁場の強度と分布をイメージングし、磁区構造を直接表示させることができます。この技術はデータストレージや電子デバイスで使用される複雑な材料を直接イメージングできるため、非常に有益な情報を得ることが出来ます。
微分位相差顕微鏡
DPC-STEMには、多くの研究分野での応用例があります。スピントロニクスの分野では、サブマイクロメートルでパターン化された磁性材料のマイクロ磁性状態を測定することが重要になる場合があります。オプトエレクトロニクスでは、中心対称を持たない材料の量子井戸が、デバイスのバンド構造を変える強い圧電電界を引き起こす原因となります。これらのスピントロニクスおよびオプトエレクトロニクスで材料を完全に理解するには、DPC-STEMならではの特性評価が必要です。
この手法は磁性試料だけに限定されるものではありません。分極化された材料や薄膜は、内在する電場を持った材料と同様、電子ビームに影響します。DPC-STEMは、結合の電荷分布、インターフェース間、表面における重要な情報を明らかにすることができ、材料の物理的特性の新しい側面を発見できる可能性があります。
DPC-STEMは、Thermo Scientific Talos S/TEMおよびSpectra S/TEMプラットフォームに搭載された4セグメント設計の（Panther）STEM検出器を用いて行うことが出来ます。Thermo Scientific Veloxソフトウェアと組み合わせると、ユーザーインターフェースに完全に統合された、DPCのライブ取得が実現します。
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DPC-STEMでは、磁気構造中の磁場方向に関する定量的情報を取得できます。ここでは、ヘキサフェライト試料の磁場方向がカラーホイールで表現されています。試料提供：H. Nakajima氏、S. Mori氏、大阪府立大学。
ヘキサフェライト試料の磁場の強さと方向を示す矢印マップを表示。試料提供：H. Nakajima氏、S. Mori氏、大阪府立大学。
DPC-STEMでは、磁気構造中の磁場方向に関する定量的情報を取得できます。ここでは、ヘキサフェライト試料の磁場方向がカラーホイールで表現されています。試料提供：H. Nakajima氏、S. Mori氏、大阪府立大学。
ヘキサフェライト試料の磁場の強さと方向を示す矢印マップを表示。試料提供：H. Nakajima氏、S. Mori氏、大阪府立大学。
基礎材料研究
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
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