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Phenom ParticleMetric particle analysis software

Integrated Thermo Scientific Phenom ParticleMetric Software allows you to gather morphology and particle size data for numerous sub-micron particle applications with any Phenom Desktop SEM. The fully automated measurements of ParticleMetric Software allow a level of visual exploration beyond optical microscopy that can lead to new discoveries and innovations in powder design, development, and quality control. 

Phenom ParticleMetric Software provides insightful data about your particles quickly and easily; these insights can help you improve the quality of your products and expedite your research.

Key features of ParticleMetric particle analysis software

Online and offline analysis

Integrated within Thermo Scientific Phenom ProSuite Software for online and offline analysis.

Correlating features

Correlate particle features such as diameter, circularity, aspect ratio and convexity.

Advanced detection algorithm

Features an advanced detection algorithm with default settings for non-expert user and advanced settings for experts.

Automated image mapping

Create image datasets with complimentary automated image mapping software.


Specifications

Style Sheet for Products Table Specifications

Particle size range

  • 100 nm - 0.1 mm

Particle detection

  • 8/16 bit image processing

Speed

  • More than 1,000 particles per minute

Measured properties

  • Size, shape, count

Particle parameters      

  • Area, circle equivalent diameter, surface area, circumscribed circle diameter, volume by area, circumference, aspect ratio, circularity, elongation, grayscale, major axis, minor axis, convex hull, gravity center (x,y), pixel count, and convexity.

Digital image detection                  

  • Plot graphs in linear, log or double log scale, by number or by volume
  • Scatter plots of any given parameter
  • SEM image of individual particle

Output

  • Report in docx format, TIFF image format, CSV file, Project file (.PAME) for offline analysis

Part of ProSuite Software

  • Network storage enabled
  • Phenom integrated system
Style Sheet for Komodo Tabs

Resources

Applications

部品のクリーン度テストにてSEMで確認されたアルミニウム鉱物粒

クリーン度

現代の製造では、これまで以上に信頼性の高い高品質の部品が必要とされています。走査電子顕微鏡を使用することで、部品のクリーン度分析を社内で実施でき、幅広い分析データが得られ、製造サイクルの短縮が可能です。


Techniques

エネルギー分散分光法

エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。

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3D EDSトモグラフィー

現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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エネルギー分散分光法

エネルギー分散分光法(EDS)を使用することにより、電子顕微鏡の画像情報に加えて、詳細な元素情報も収集できます。電子顕微鏡観察時に重要な組成分布を得ることができます。EDSにより、全容を示す低倍率のスキャンから、原子分解能マッピングに至るまで、試料の元素組成情報が短時間で得られます。

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3D EDSトモグラフィー

現代の材料研究は、3次元のナノスケール分析にますます依存しています。3Dの電子顕微鏡解析およびエネルギー分散型X線分光法を使用することにより、全元素の組成情報を含む微細構造の3D解析が可能になります。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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