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自動車部品の検査

近年、トランスミッション、給油システム、パワートレイン、ブレーキシステムといった自動車部品の機能性や信頼性は驚くほど向上しています。これらの部品は、新開発された鉄鋼、ガラス、セラミック、有機材料といった高性能な材料が用いられることによって部品そのものの性能が向上しています。

自動車分野の材料評価

しかし、これらの改善には新たな課題も伴います。たとえば、高精度の自動車部品は、ミクロンサイズの残留微粒子といったコンタミネーションの影響をより受けやすく、構成部品の故障やシステムの故障まで引き起ここしてしまう可能性があります。これらの不良解析には微小なコンタミネーションを捉えることができるような高分解能での評価が求められます。

自動車分野における新製品の生産や開発は、高品質な生産を担保しながら、製造工程や材料の改善を検討する試験も行われています。たとえば、低価格で燃料効率の高いタイヤがますます必要とされる中、新しいゴム材料の配合を研究開発するための、より良い評価手法が求められています。タイヤに使用される次世代のゴム化合物は、高品質かつ燃費に大きな影響を与える路面抵抗を軽減する必要があります。この開発は、電子顕微鏡などの手法を用いた詳細な分析評価から始まります。 

自動車製造における品質管理

サーモフィッシャーサイエンティフィックは、自動車関連材料の分析を簡素化するさまざまな装置とソフトウェアを提供しています。これらの製品は品質管理の内製化による生産性向上に、大きく貢献する可能性があります。品質管理に必要な分析を外注に依存しなくなることで、生産サイクルに掛かる時間を大幅に短縮できます。

Style Sheet for Komodo Tabs

リソース

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

応用例

電子顕微鏡を使用した品質管理と不良解析

品質管理と不良解析

近年の産業では、品質管理と品質保証が不可欠です。私たちは、欠陥をマルチスケールかつ多モードで分析可能なEMおよび分光ツールを提供しており、これらにより得られる信頼性の高い十分な情報によりプロセス制御および改善のための決定が可能となります。

部品のクリーン度テストにてSEMで確認されたアルミニウム鉱物粒

クリーン度

現代の製造では、これまで以上に信頼性の高い高品質の部品が必要とされています。走査電子顕微鏡を使用することで、部品のクリーン度分析を社内で実施でき、幅広い分析データが得られ、製造サイクルの短縮が可能です。

手法

EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

詳細はこちら ›

断面加工

断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。

詳細はこちら ›

In situ試験

加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。

詳細はこちら ›

粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

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断面加工

断面加工により、表面下の情報が明らかになり、さらなる知見が得られます。DualBeam装置は、高品質の断面加工を実現する、優れた集束イオンビームカラムを備えています。自動化機能により、無人でのハイスループットな試料処理が可能になります。

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In situ試験

加熱、冷却、液中での再結晶化、グレイン成長、相変態などの動的プロセスの基本原理を理解するには、電子顕微鏡を用いて、微細構造変化を直接かつリアルタイムで観察する必要があります。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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製品

Style Sheet for Instrument Cards Origin

Apreo 2 SEM

  • ナノメートルまたはサブナノメートルの分解能を備えたオールラウンドな高性能SEM
  • 高感度なテレビ品質の画像コントラストを実現するインカラムT1反射電子検出器
  • 長い作動距離(10 mm)で優れた性能を発揮

Quattro ESEM

  • 独自の環境機能(ESEM)を備えた超多用途の高分解能FEG SEM
  • 全操作モードのSEとBSE信号の同時取り込みによって、試料からすべての情報を獲得します

Prisma E SEM

  • 優れた画質を備えたエントリーレベルのSEM
  • 複数の試料を簡単かつ迅速にロードおよびナビゲーションできます
  • 専用の真空モードにより、幅広いタイプの材料に対応

Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

  • 1~20 kVの加速電圧範囲を有する電界放出型電子銃
  • 20 kVで2.0 nm(SE)および3.0 nm(BSE)未満の分解能
  • EDS検出器およびSE検出器の完全一体型(オプション)

Phenom XL G2 Desktop SEM

  • 大容量の試料(100 × 100 mm)に対応し、自動データ取得に最適
  • 10 nm未満の分解能、最大倍率200,000倍、加速電圧4.8 kV~20 kV
  • EDS検出器およびBSE検出器の完全一体型(オプション)

Phenom ProX G6 Desktop SEM

  • EDS検出器を搭載した高性能デスクトップSEM
  • 6 nm未満(SE)および8 nm未満(BSE)の分解能、最大倍率350,000倍
  • オプションのSE検出器

Phenom ParticleX TC Desktop SEM

  • 清浄度検査のための自動化ソフトウェアを備えた汎用卓上SEM
  • 10 nm以下の分解能、最大倍率200,000倍
  • オプションのSE検出器

Nexsa G2 XPS

  • マイクロフォーカスX線源
  • 独自の追加可能なオプション
  • 単原子およびクラスターイオンデプスプロファイリング用のデュアルモードイオン源

K-Alpha XPS

  • 高分解能XPS
  • 高速で効率的な自動ワークフロー
  • イオン源を用いたデプスプロファイリング

ESCALAB Xi+ XPS

  • 高いスペクトル分解能
  • マルチテクニックによる表面分析
  • 試料作製および拡張のための豊富なオプション

Avizo Software
材料科学

  • マルチデータ/マルチビュー、マルチチャンネル、時系列、非常に大きなデータのサポート
  • 高度なマルチモード2D/3D自動位置合わせ
  • アーチファクト削減アルゴリズム

Filter Inserts (Phenom)

  • フィルター残留物分析およびアスベスト分析
  • 47 mm(1.85インチ)と25 mm(1インチ)のフィルターをサポートする2つのモデル
  • Phenom Desktop SEMで使用します

AutoScript 4 Software

  • 再現性と精度の向上
  • 無人の高速イメージングおよびパターン作り
  • Python 3.5に基づいたスクリプト環境も使用可能

Phenom PoroMetric Software

  • 面積、アスペクト比、長軸および短軸などの細孔特性の相関
  • 卓上SEMから画像を直接取得します
  • 高品質な画像を含む統計データ

Phenom ParticleMetric Software

  • ProSuiteに搭載されたオンラインおよびオフライン分析用ソフトウェア
  • 直径、真円度、アスペクト比、凸度などの粒子特性の相関
  • 自動画像マッピングによる画像データセットの作成

Phenom FiberMetric Software

  • 自動測定により時間を節約します
  • すべての統計データを迅速かつ自動的に収集します
  • マイクロファイバーおよびナノファイバーを比類のない精度で表示および測定できます
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class

お問い合わせ

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材料科学向けの
電子顕微鏡サービス

最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。