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HRTEM
透過電子顕微鏡（TEM)と走査透過電子顕微鏡（STEM）は、ナノ構造の解析に不可欠であり、さまざまなイメージングモードを提供するとともに、高感度で元素組成および電子構造に関する情報にアクセスできます。材料研究がナノスケールでの材料の機能と挙動の最適化に注力する中で、この分解能レベルによる正確な情報がますます重要になってきています。高分解能TEM（HRTEM）およびSTEM（HRSTEM）は、原子レベルでの基礎物性評価を行うための可能な限り詳細な構造情報を提供します。これには、構造的な不整合やばらつきが少しでもあると材料の特性が大きく変化する可能性があるため、ナノマテリアル研究にとって非常に重要です。たとえば、白金ナノ粒子中の結晶構造と原子間隔は、水素燃料電池における触媒挙動に大きな影響を与える可能性があります。
HRTEM imaging
サーモフィッシャーサイエンティフィックは、ビームに敏感な材料を含む、幅広い試料のHRTEMおよびHRSTEM分析に対応するハードウェアおよびソフトウェアに革新を起こしています。とりわけ、データ取得中のドリフト、振動、その他の不安定性の影響によって、画質が低下することがよくあります。ドリフト補正フレーム積算（DCFI）は、この問題を解決するThermo Scientific Veloxソフトウェアの取得方法で、高いコントラストと高いS/N比で画像を生成します。積算微分位相コントラスト（iDPC）ソフトウェアを追加すれば、低線量条件下でも、軽元素と重元素の信頼性の高い同時イメージングにより、解釈が容易な高分解能画像の収集が可能になります。
サーモフィッシャーサイエンティフィックの高分解能透過電子顕微鏡
Spectra S/TEM装置は、S-CORRプローブ収差補正器による収差補正を追加することにより、高分解能イメージングをさらに一歩前進させ、サブオングストローム（<0.8 Å）領域でのS/TEMイメージングを常時可能にします。そして新しいTalosおよびSpectra S/TEM装置に搭載されているPanther STEM検出システムは、機械的なアライメントと検出器の形状を最適化することでマルチシグナルの取得と機械的なアライメントの精度を向上させています。ゲイン／オフセットの線形応答とシグナル処理の自由度を備えているため、より高いスループットと簡単な操作を実現します。最大16のセグメントと、低線量STEM用の超高電子感度の新しい増幅器設計により、より鮮明な画像が表示できます。
高品質の自動S/TEM装置と先進のソフトウェアソリューションを組み合わせることで、HRTEMおよびHRSTEMイメージングは、これまで以上に利用しやすくなり、より困難な材料に関して、比類のない原子分解能の情報を収集することができます。
300 kVでHAADF（DCFI）STEMを用いた窒化ガリウム[212]のSTEM画像。ワイドギャップ(S-TWIN)ポールピースを用いても40.5 pmのGa-Gaダンベルが分離されており、高速フーリエ変換の分解能は39 pm。
金属有機構造体（MOF）UiO 66の超低線量イメージング（166 e-/Å2）。非常に線量の影響を受けやすい材料であるため、その原子レベルイメージングには、iDPCおよび新しい高感度STEM検出器を組み合わせて0.5 pA未満の極低プローブ電流で取得。試料提供：Y. Han教授、キング・アブドゥッラー科学技術大学。
固体アルミニウム母材上のアルミニウム-ジルコニウム析出物（ライトグレー）が付着した鉄-アルミニウム合金ナノ粒子（中央）のDCFI STEM画像（Talos F200 STEMとVeloxソフトウェアにより取得）。試料提供：デルフト工科大学、オランダ。
鉄-アルミニウム合金上の個々のジルコニウム原子のDCFI STEM画像（Talos F200 STEMとVeloxソフトウェアにより取得）。イメージ幅、約14 nm。試料提供：デルフト工科大学、オランダ。
Talos F200 STEMを用いて首足されたニオブ酸タングステンカリウムの高角度環状暗視野（HAADF）高分解能走査透過電子顕微鏡（HRSTEM）像。個々の原子を明瞭に識別可能。イメージ幅、約15 nm。
白金／ロジウム触媒ナノ粒子をTalos F200 S/TEMで画像化し広視野で表示。デジタルズームを用いることで、原子レベルでの詳細を確認可能（図内）。広視野に対応した4k×4kの高速Cetaカメラは、ライブでのデジタルズームが可能で、高電圧全域にわたって優れた感度と速度を発揮できます。試料提供：B. Gorman教授、R. Richards教授、コロラド鉱山大学。
BaTiO₃/SrTiO₃界面の高分解能TEM（HRTEM）画像（Talos F200 TEMで取得）。試料提供：Di Wu教授、南京大学。
金属有機構造体（MOF）UiO 66の超低線量イメージング（166 e-/Å2）。非常に線量の影響を受けやすい材料であるため、その原子レベルイメージングには、iDPCおよび新しい高感度STEM検出器を組み合わせて0.5 pA未満の極低プローブ電流で取得。試料提供：Y. Han教授、キング・アブドゥッラー科学技術大学。
固体アルミニウム母材上のアルミニウム-ジルコニウム析出物（ライトグレー）が付着した鉄-アルミニウム合金ナノ粒子（中央）のDCFI STEM画像（Talos F200 STEMとVeloxソフトウェアにより取得）。試料提供：デルフト工科大学、オランダ。
鉄-アルミニウム合金上の個々のジルコニウム原子のDCFI STEM画像（Talos F200 STEMとVeloxソフトウェアにより取得）。イメージ幅、約14 nm。試料提供：デルフト工科大学、オランダ。
Talos F200 STEMを用いて首足されたニオブ酸タングステンカリウムの高角度環状暗視野（HAADF）高分解能走査透過電子顕微鏡（HRSTEM）像。個々の原子を明瞭に識別可能。イメージ幅、約15 nm。
白金／ロジウム触媒ナノ粒子をTalos F200 S/TEMで画像化し広視野で表示。デジタルズームを用いることで、原子レベルでの詳細を確認可能（図内）。広視野に対応した4k×4kの高速Cetaカメラは、ライブでのデジタルズームが可能で、高電圧全域にわたって優れた感度と速度を発揮できます。試料提供：B. Gorman教授、R. Richards教授、コロラド鉱山大学。
BaTiO₃/SrTiO₃界面の高分解能TEM（HRTEM）画像（Talos F200 TEMで取得）。試料提供：Di Wu教授、南京大学。
基礎材料研究
新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。
繊維およびフィルター
合成繊維の直径、形態、密度は、フィルターの寿命と機能性を決定する重要なパラメーターです。走査電子顕微鏡法（SEM）は、これらの特徴を迅速かつ容易に調査するための理想的な手法です。
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