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Electrostatic discharge (ESD) causes localized increases in temperature that can damage small features and structures that make up today’s semiconductor devices and integrated circuits. As these structures and devices become smaller and more complex in design, isolating such electrical faults becomes more challenging. This means advanced and highly sensitive testing equipment is needed to ensure that these devices can survive electrostatic discharge. This equipment can also help to prove that devices are in compliance with national, international, and industry ESD test standards.
For example, the most common ESD compliance test, called human body model (HBM) testing, simulates the effect of a human discharging electrical energy into an electronic component. Another example is charged device model (CDM) testing, where a discharge is simulated coming from the device to an external point.
Thermo Fisher Scientific offers a range of equipment that suits all your ESD testing needs, including instruments for transmission-line pulse (TLP), HBM, and CDM testing. The exact tool required will depend on the size and complexity of the device, so be sure to visit our product pages on this website for more information.
Evaluwave™ software provides automated waveform analysis allowing instant verification of conformance to published standards. Annotated waveforms can be captured and stored for use in reporting and archival.
SEM image showing ESD damage to a devices Gate Oxide at 50,000x magnification. Hole size is roughly 50nm.
Evaluwave™ software provides automated waveform analysis allowing instant verification of conformance to published standards. Annotated waveforms can be captured and stored for use in reporting and archival.
SEM image showing ESD damage to a devices Gate Oxide at 50,000x magnification. Hole size is roughly 50nm.
ESD半導体適格性評価
静電放電（ESD）管理計画においては、ESD感度の高い機器を特定することが必要です。当社は、使用機器の適格要件適合を補助するための完全な検査システムセットを提供しています。
パワー半導体デバイス解析
電力用装置には、障害位置特定にかかわる特有の課題があります。これは主に、動力用装置のアーキテクチャとレイアウトを原因としています。当社のパワー半導体デバイス解析ツールとワークフローを使用すると、動作条件下の不良個所をすばやく特定し、材料、インターフェース、装置構造の高精度かつハイスループットの特性分析を行えます。
ディスプレイモジュールの不良解析
進化を続けるディスプレイテクノロジーではディスプレイの品質と光変換効率の向上を目的としており、さまざまな産業分野のアプリケーションをサポートしながら生産コストを削減します。当社が提供するプロセスの計測、不良解析、研究および開発ソリューションは、ディスプレイ企業がこうした課題を解決するのに役立ちます。
半導体材料およびデバイスの解析
半導体デバイスが微細化し複雑になるにつれて、新しい設計と構造が必要になります。生産性の高い3D解析ワークフローはデバイス開発時間の短縮や、歩留まりの最大化を実現し、デバイスが業界の将来のニーズを確実に満たすようにします。
Style Sheet for Komodo Tabs
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Style Sheet for Instrument Cards Origin
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