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科学捜査用の顕微鏡観察

電子顕微鏡は、幅広く科学的な法医学調査に適用できます。ガラスや塗料の断片、工具痕跡、薬物、爆発物、および発砲痕など、数多くの犯罪現場の微量成分は、走査電子顕微鏡(SEM)を使用することで、視覚的および化学的な分析が可能になります。この分析に基づいた結論は、犯罪の真実を立証し、関与した人物を特定できるため、非常に重要なものです。

銃器の発砲痕分析

アメリカでは多くの場合、犯罪捜査官は銃火器が使用された犯罪現場を分析するという、相当困難なタスクに直面します。発砲痕分析は、浮かんでいる容疑者または銃火器が、問題となっている事件に関与したかどうかの判断に適した標準的な手法です。確立されている発砲痕分析は、問題となる発砲痕残渣のSEM調査から始まり、通常、そのサイズは0.5~10マイクロメートルです。一致する粒子が検出された場合、SEM内でエネルギー分散X線分析(EDS)を使用して、その粒子の化学組成を特定します。もっとも一般的な検索基準となるのは、鉛(Pb)、バリウム(Ba)、およびアンチモン(Sb)が存在するかどうかです。試料が発砲の結果であることが確認されると、その特性は調査の裏付けとなる証拠として使用できます。

従来、この種の分析は手作業で行われており、科学捜査官は、証拠の解析と比較作業に多大な時間を費やしていました。卓上SEM Thermo Scientific Phenom Perception GSRは、発砲痕分析用に特別設計された専用ツールです。このシステムは独自の自動化機能を備えているため、分析プロセスを高速化し、より迅速、簡単に、信頼性を高めることができます。卓上SEM Phenomは、時間とフロアスペースを節約しようとするあらゆる科学捜査分析室に最適で、射撃特性分析、塗料分析、繊維解析などその他多くの科学捜査アプリケーションにも適用できます。


リソース

応用例

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基礎材料研究

新材料開発では、その物理的および化学的特性を最大化するために、より小さなスケールでの研究がなされています。電子顕微鏡は、マイクロスケールからナノスケールのさまざまな材料特性について重要な情報を研究者に提供します。

 


手法

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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EDS元素分析

EDSは、電子顕微鏡観察に不可欠な組成情報を提供します。特に、当社独自のSuper-XおよびDual-X検出器システムはSTEM-EDS分析の速度や感度を向上させるため、材料の研究に必要な元素分布情報が入手しやすくなります。

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EDSによる原子分解能元素マッピング

原子分解能EDSでは、個々の原子のレベルで元素を識別できるため、優れた高分解能の組成情報が得られます。高分解能S/TEMイメージングとの組み合わせにより、試料中の原子構成を正確に観察できます。

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粒子解析

粒子解析は、ナノマテリアルの研究および品質管理において重要な役割を果たします。電子顕微鏡のナノスケールの分解能と優れたイメージングは、粉末や粒子の迅速な解析のための専用ソフトウェアと組み合わせて使用することが出来ます。

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製品

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Phenom Perception GSR Desktop SEM

  • 専用の自動GSR卓上SEM
  • 10 nm以下の分解能、最大倍率200,000倍
  • 長寿命CeB6電子銃

Nexsa G2 XPS

  • マイクロフォーカスX線源
  • 独自の追加可能なオプション
  • 単原子およびクラスターイオンデプスプロファイリング用のデュアルモードイオン源

K-Alpha XPS

  • 高分解能XPS
  • 高速で効率的な自動ワークフロー
  • イオン源を用いたデプスプロファイリング

ESCALAB Xi+ XPS

  • 高いスペクトル分解能
  • マルチテクニックによる表面分析
  • 試料作製および拡張のための豊富なオプション

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