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韓国のキフンにある電子顕微鏡センター
韓国にあるNanoPortカスタマーイノベーションセンターは、電子顕微鏡（EM）の中核研究拠点の1つであり、当社の装置とソリューションを体験する機会を提供すると同時に、利用者の知識とスキルの向上を目的として設計されています。ここでの没入型体験により、製品のエキスパートとのやりとりを介して、サーモフィッシャーサイエンティフィックのソリューションに関する詳細情報を入手できます。
キフンNanoPortカスタマーイノベーションセンター
キフン電子顕微鏡センター
11 Seocheon-Ro, 201 beon-Gil, Suite107
Giheung-gu, Youngin-si, Gyeonggi-do, 17111
South Korea
電話：+82-1661-9003
ファックス：+82-31-888-1830
韓国のキフンにあるNanoPortではどんなことを体験できますか？
NanoPortカスタマーイノベーションセンターでは、専門家主催のワークショップに参加することができ、電子顕微鏡オペレーションの習熟、各自のサンプルを持ち込んでの装置デモへの参加、必要な質問をするためのノウハウの取得、センター所属のEMエキスパートからの指導などの機会が提供されます。
電子顕微鏡（EM）機能に不慣れな方でも、最新の技術や装置に関する情報取得のみを目的とする方でも、当社のNanoPortでの体験はそれぞれのニーズに対応し、新規購入に向けての安心感を提供します。
電子顕微鏡技術
キフンNanoPortカスタマーイノベーションセンターに所属する15人余りの専門家は、カスタマーサイトで長年の実務経験を積んでおり、その大部分が各自の専門分野で博士号または修士号を取得しています。
当社NanoPortのカスタマーイノベーションセンターにお客様のサンプルをお持ちいただければ、高難度の分析や特性評価において、当社の装置、ソフトウェア、知識がもたらす優位性を実際にご体験いただくことができます。
サーモフィッシャーサイエンティフィックの実力をご体験ください – キフンNanoPort CICでは以下の専門知識や分析技術が提供されています。
材料科学分野
- 透過型電子顕微鏡（TEM）
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
- DualBeam顕微鏡（集束イオンビームおよびSEM（FIB-SEM）ツールの組み合わせ）
半導体分野
- 透過型電子顕微鏡（TEM）
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
- DualBeam顕微鏡（集束イオンビームおよびSEM（FIB-SEM）ツールの組み合わせ）
- 物理的不良解析（PFA）
- 電気的不良解析（EFA）
ライフサイエンス分野
- 透過型電子顕微鏡（TEM）
- 走査型電子顕微鏡（SEM）
- DualBeam顕微鏡（集束イオンビームおよびSEM（FIB-SEM）の複合装置）
- クライオトモグラフィー
- 単粒子解析法
韓国の電子顕微鏡科学
当社の装置とソフトウェアを用いて科学者や研究者たちが達成した成果をご覧ください
A New Delayering Application Workflow in Advanced 5nm Technology Device with Xenon Plasma Focus Ion Beam Microscopy, Ha Young Choi, Seo Jin Kim1 and Christopher H. Kang, Chun Cheng Tsao, STFA 2021: Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis, p274
Automated Metrology on the verticality of Cross-sectioned channel hole at VNAND with over 200 layers by Transmission Electron microscope, Dong-yeob Kim, Jong-ick Son, Christopher H Kang, STFA 2021: Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis, p313
Automated cell layer counting and marking at target layer of 3D NAND TEM samples by Focused Ion Beam, Jisu Ryu, Seojin Kim, Christopher H. Kang, STFA 2021: Proceedings from the 47th International Symposium for Testing and Failure Analysis, p347
Automated sample depth targeting with low kV cleaning by Focused Ion Beam Microscopy for Atom Probe Tomography, Woo Jun Kwon, Jisu Ryu, and Christopher H. Kang, Michael B. Schmidt, and Nicholas Croy, STFA 2020: Proceedings from the 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis, p299
Ga Aggregation in Cu Layer on In-Situ TEM Analysis: Observation and Alternative Solutions, Seo-Jin Kim, Byung-Kyu Park and Christopher H. Kang, STFA 2020: Proceedings from the 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis, p325
韓国のキフンにあるNanoPortカスタマーイノベーションセンターで開催されているイベント
ワークショップ：特定のテーマや分野に焦点を当てたディスカッションと実践的作業を通して、参加者の知識や経験の共有を促進します。
インハウスコース：お客様の電子顕微鏡解析技術の構築を支援するために実践的な対面トレーニングを行います。
リモートトレーニング：当社NanoPortのトップエキスパートが、ラボその他のリモートロケーションにいるお客様に対し、カスタマイズされたトレーニングをリモートで直接提供します。
これらのイベントの費用およびスケジューリングの詳細については、当社にお問い合わせください。
Thermo Scientific Helios 5 HX DualBeam TEMとSTEMのイメージングおよびアトムプローブトモグラフィー用の試料作製。高度な自動化による簡単操作。高品質な表面下3D解析が可能。 半導体、材料科学分野
Thermo Scientific Helios 5レーザーPFIB（プラズマFIB）システム プラズマ集束イオンビームとレーザーアブレーションツールの組み合わせによるハイスループットなミリメートルスケールでの断面処理とナノメートル分解能での3D特性評価。 材料科学分野
走査型電子顕微鏡
Thermo Scientific Apreo 2 SEM 汎用性に優れ、高性能材料のイメージングと分析に適した走査型電子顕微鏡。 半導体、材料科学、ライフサイエンス分野
Thermo Scientific Axia ChemiSEM 柔軟性と操作性に優れ、超短時間での定量的元素分析が可能なSEM EDS装置。 材料科学分野
デジタルラボ
- 3台のハイエンドワークステーション
試料作製室
- 薄膜コーター
- プラズマクリーナー
- アルゴンビーム試料表面クリーナー
- 3Dプリンター
- 光学顕微鏡
準備中
透過型電子顕微鏡
走査型電子顕微鏡
DualBeam装置
フリート管理システム
電子顕微鏡リモートトレーニング
新しい装置のオンサイトトレーニングは時間がかかる場合があり、トレーニングのニーズは個々の施設やラボごとに大きく異なる可能性があります。これらの困難に対処するため、当社が新しく設立したのがリモートアプリケーショントレーニングプログラムです。ここでは受講者が世界のどこにいても、最高のアプリケーション研究者とトレーニング資料をお届けできます。
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