Search Thermo Fisher Scientific
Thermo Scientific™のNexsa™ X線光電子分光装置は、完全に自動化されており、高いスループットを実現しており、高度な最先端の研究開発や、製造工程の問題解決にいたるまでのさまざまな有用なデータを提供します。イオン散乱分光（ISS）、紫外光電子分光（UPS）、反射エネルギー損失分光（REELS）、ラマン分光といった複数の分析手法の統合による、相関性を持った分析や先進のマイクロエレクトロニクス、超薄膜、ナノテク開発そのた多くのアプリケーションであらたな可能性を切り開くことになります。
高性能X線源
新しいローパワーX線モノクロメーターでは、分析エリアが10 µmから400 µmまで、5 µm刻みで選択でき、目的部位のサイズに合わせてスポットを調整可能で、最大限の信号が得られます。
最適化された電子光学系
高効率電子レンズ、半球型アナライザー、高性能検出器は高速で高い検出効率の分析を可能にします。
試料観察
Nexsaの特許の光学系やXPS Snap-Mapにより、目的の部位にフォーカスを合わせることで、XPSイメージにおいて目的の場所に速やかに分析位置を設定できます。
絶縁物分析
低速電子、低速Arイオンを1 eV以下の低速で照射可能な特許のデュアルビーム帯電中和銃は、試料の帯電を防ぎ、多くの場合に補正用のリファレンスが不要です。
デプスプロファイル
標準のイオン銃、もしくは単原子イオン、ガスクラスターイオン兼用デュアルモードイオン銃MAGCISにより、試料内部の情報が得られます。自動調整機能と自動ガスハンドリング機構により、優れた性能とデータの再現性を実現します。
オプションサンプルホルダー
角度分解XPS用試料ホルダー、仕事関数測定用試料ホルダー、トランスファーベッセルのオプションサンプルホルダー
デジタルコントロール
システムコントロール、データ取得、解析、レポート作成はThermo Scientific Avantageデータシステムにより制御されています。
Style Sheet for Products Table Specifications
| アナライザータイプ |
|
| X線源タイプ |
|
| X線スポットサイズ |
|
| デプスプロファイル |
|
| 最大分析エリア |
|
| 最大試料厚み |
|
| 真空システム |
|
| オプションアクセサリー |
|
Style Sheet for Komodo Tabs
Style Sheet to change H3 to p with em-h3-header class
Style Sheet to change Sample H3 to p with em-h3-header class
繊維およびフィルター
合成繊維の直径、形態、密度は、フィルターの寿命と機能性を決定する重要なパラメーターです。走査電子顕微鏡法（SEM）は、これらの特徴を迅速かつ容易に調査するための理想的な手法です。
表面の広範囲な評価のニーズを満たすため、Thermo Scientific ESCALAB CXi XPSマイクロプローブまたはThermo Scientific Nexsa表面分析システムを用いたマルチテクニックワークフローを確立しました。これら装置はタイムリーかつ効率的な方法で包括的な分析を提供するための、マルチテクニックワークステーションとして設計されています。
表面の広範囲な評価のニーズを満たすため、Thermo Scientific ESCALAB CXi XPSマイクロプローブまたはThermo Scientific Nexsa表面分析システムを用いたマルチテクニックワークフローを確立しました。これら装置はタイムリーかつ効率的な方法で包括的な分析を提供するための、マルチテクニックワークステーションとして設計されています。
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards