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随着油气需求越来越高,储量越来越低,碳氢化合物提取技术在业内变得越来越重要。从常规核心插件筛选到高级多相流建模,赛默飞世尔科技为石油和天然气研究和表征提供准确的端到端解决方案。无论您是新建数字岩石分析实验室,还是扩大现有的表征化能力,我们都能提供您所需的设备、软件和专业知识,从而帮助您在一开始就最大限度地发挥潜能。

岩芯塞筛选

岩芯分析程序是一项巨额投资,在进行特殊岩芯分析和地质力学测试之前评估岩芯塞的质量可确保储层工程师、岩石物理学家和地质学家在进行进一步分析之前获得准确且具有代表性的数据。

高分辨率成像提供了一种非侵入性的方法、可以检查样品的内部结构。Thermo Scientific HeliScan microCT显微计算机断层扫描)可通过一个连续螺旋 X 射线扫描实现岩芯的 3D 重建。由于复杂的重建算法减少了噪声并放大了信号,这提供了比传统 microCT 扫描更高的保真图像。这些岩芯塞 3D 图像可帮助岩石物理学家和地质学家执行多尺度岩石分类,以更好地理解地层学、净土比、流体流量和电缆测井响应。

  • 快速评估样品异质性
  • 评估样品污染(例如钻井液入侵)
  • 确定结构完整性(不受钻孔造成的损坏)
  • 确定微分形的存在和程度

储层质量分析

每个操作员都有数千英尺长的旧岩芯存放在仓库中,以及大量的切屑和薄切片。这些样品的数字库由 3D 和 2D 图像组成,为地质学家提供了一种快速且具有统计学意义的方法,即通过检测之前获得的孔芯来评估实际效果。这些数字岩芯模型通过图像分析和可视化软件将全岩芯计算机断层扫描、microCT、光学和扫描电子显微镜 (SEM)DualBeam 技术(聚焦离子束和 SEM)数据相结合。以前,由于传统方法提供的结果没有上下文和见解,因此这些单独的观察将被孤立。数字岩芯建模提供分析和表征功能、以及存档和快速共享信息的能力。最重要的是、它将观察到的属性与储层的基本性质联系起来。

  • 使用一种方法即可获得准确的粘土形态和质地背景
  • 设置自动化工作流程以保证一致、客观的分析
  • 提高您对结果准确性的信心
Core plug analyzed with a multi-modal approach revealing oil, porosity, and mineralogy.
多模态分析岩芯及自动鉴定孔隙率、矿物学和油包裹体。

多尺度分析

储层岩石以异质性和层压为主。为了最大程度地从这样的储层中回收碳氢化合物,需要对岩石的微观结构进行准确的表征。这不仅需要了解单个岩石类型和层压,还包括组成储层的各种岩石类型的相互间隙。表征亚表面孔隙率、饱和度和润湿性对于确定产生的液体类型和体积至关重要。不幸的是,单一成像工具无法同时解决微尺度的孔隙连通性和宏观尺度的特征。

为了完全表征这些非传统系统,需要进行多尺度、多模态成像。赛默飞世尔科技提供将 X 射线断层扫描和显微镜成像与 能量色散 X 射线光谱 (EDS) 关联用于元素分析的软件解决方案。这种结合使用各种工具能将微尺度观察关联到孔隙系统连通性的亚纳米尺度的 3D 可视化图像中。它还可生成润湿性和原位流体饱和度信息、让您可以将微观结果放大到岩芯塞和测井规模。

  • 准确跟踪不同尺度的特征分布
  • 创建统计上有效的数据集以进行代表性的定量属性评估
  • 轻松生成自动化、客观的采集和分析工作流程
Core plug analyzed with microCT and SEM at multiple scales.
通过从毫米级 microCT 分析到两个感兴趣区域的微米级 SEM 成像而对岩芯进行多尺度分析。

相关资源

应用

使用电镜进行基础材料研究

基础材料研究

越来越小的规模研究新型材料,以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。


技术

Style Sheet for Komodo Tabs

3D 材料表征

材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像,可用于样品的高质量3D重建。

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能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

了解更多 ›

EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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3D EDS断层扫描

现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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环境SEM (ESEM)

环境SEM 能对自然状态的材料进行成像。它是需要测试和分析湿、脏、活性、脱气或其他不兼容真空的样品的学术和工业研究人员的理想选择。

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交叉切片

交叉切片通过揭示亚表面信息提供额外的剖析。DualBeam仪器配备卓越的聚焦离子束色谱柱,可实现高质量的交叉切片。借助自动化技术,可实现无人参与的高通量样品处理功能。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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3D 材料表征

材料开发通常需要多尺度3D表征。DualBeam仪器可实现大体积连续切片和随后纳米级的SEM成像,可用于样品的高质量3D重建。

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能量色散谱EDS

能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。

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EDS元素分析

EDS为电子显微镜观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项,使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。

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现代材料研究越来越依赖于三维的纳米级分析。3D电镜和能量色散X射线光谱可以3D表征包括整个化学和结构背景下的组分数据。

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环境SEM 能对自然状态的材料进行成像。它是需要测试和分析湿、脏、活性、脱气或其他不兼容真空的样品的学术和工业研究人员的理想选择。

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交叉切片

交叉切片通过揭示亚表面信息提供额外的剖析。DualBeam仪器配备卓越的聚焦离子束色谱柱,可实现高质量的交叉切片。借助自动化技术,可实现无人参与的高通量样品处理功能。

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多尺度分析

必须在更高分辨率下分析新材料,同时保留较大的样品背景。多尺度分析允许多种成像工具和模态(如X射线microCT、DualBeam、激光PFIB、SEM和TEM)关联。

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产品

仪器卡片原件样式表

Helios Hydra DualBeam

  • 4 个快速切换离子种类(Xe、Ar、O、N),用于对种类最丰富的材料进行优化 PFIB 处理
  • Ga-free TEM 样品制备
  • 极高分辨率 SEM 成像

Helios 5 PFIB DualBeam

  • 无镓 STEM 和 TEM 样品制备
  • 多模式亚表面和 3D 信息
  • 新一代 2.5 μA 氙气电浆 FIB 色谱柱

Helios 5 DualBeam

  • 全自动、高质量、超薄 TEM 样品制备
  • 高通量、高分辨率的亚表面和 3D 表征
  • 快速纳米原型设计能力

Scios 2 DualBeam

  • 完全支持磁性及不导电样品
  • 高通量亚表面和 3D 表征
  • 先进的易用性和自动化功能

HeliScan microCT

  • 先进的螺旋扫描及迭代重建技术
  • 高分辨率 X 射线源(低于 400 nm)
  • 处理、分析和可视化样品

Quattro ESEM

  • 超高通用性高分辨率 FEG SEM 、具有独特的环境能力( ESEM )
  • 在各种操作模式下均可通过同时进行 SE 和 BSE 成像观察所有样品的所有信息

Apreo 2 SEM

  • 高性能 SEM、适用于纳米或纳米以下的所有圆分辨率
  • 用于敏感电视率材料对比度的列内 T1 反向散射检测器
  • 长工作距离 (10 mm) 下性能出色

Nexsa G2 XPS

  • 微焦点 X 射线源
  • 独特的多技术选项
  • 用于单原子和簇离子深度剖析的双模式离子源

ESCALAB QXi XPS

  • 高光谱分辨率
  • 多技术表面分析
  • 丰富的样品制备和扩展选项

K-Alpha XPS

  • 高分辨率 XPS
  • 快速、高效、自动化的工作流程
  • 用于深度剖析的离子源

Maps 软件

  • 获得大面积的高分辨率图像
  • 轻松发现感兴趣区
  • 自动化图像采集过程
  • 关联不同来源的数据

Athena 软件
成像数据管理

  • 确保图像、数据、元数据和实验工作流程的可追溯性
  • 简化您的成像工作流程
  • 促进协作
  • 保护和管理数据访问​

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