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阴极发光

阴极发光 (CL) 是材料在电子轰击时发射可见光的特征性光子的过程(例如电子显微镜中放射源产生的光子)。地质学、光电子能谱、故障分析、陶瓷、玻璃和其他许多领域的研究人员将 CL(防护等级)检测用作一种独特方法来突出使用传统电子或 X 射线成像技术无法看到的样品特性。通过将 CL 数据与拓扑、晶体学和元素信息建立关联,可以更好地了解光子特性、成分、材料质量或样品历史。

CL 检测器

Thermo Scientific SEMDualBeam 产品系列拥有多种第三方 CL 配件。这些配件通常专用于光谱 CL(防护等级)检测,即采集图像所有像素的全光谱信息(也称为高光谱成像)。虽然这提供了大量信息,但大多数 CL 解决方案仍存在对准和易用性问题、工作距离和视野的限制、和/或无法同时检测 X 射线/背散射电子信号。

Thermo Scientific RGB 阴极发光检测器提供真彩色 CL 成像,无需任何上述限制、而且已集成到仪器用户界面中。它采用平滑设计,可在样品和最终透镜之间滑动,非常类似于可伸缩背散射检测器。与传统的基于镜面的解决方案不同,大检测器区域无需进行任何光学对齐、并且不会限制视野。此外,可同时检测二级电子 (SE)、背散射电子 (BSE) 或 X 射线,从而可在电子束的单次扫描中关联 SE、BSE 和能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 与 CL 数据。

RGB 阴极发光检测器集成到显微镜的用户界面中、可在扫描光束时尽快提供彩色图像。这使得检测器成为需要 CL 数据和无忧运行的多用户实验室的独特资产。


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Helios 5 DualBeam

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Maps 软件

  • 获得大面积的高分辨率图像
  • 轻松发现感兴趣区
  • 自动化图像采集过程
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