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Microscópios eletrônicos de varredura
Desde a introdução dos microscópios eletrônicos na década de 1930, a microscopia eletrônica de varredura (SEM) se transformou em uma ferramenta essencial em vários campos de pesquisa diferentes, abrangendo desde ciência de materiais até perícia forense, fabricação industrial e até mesmo as ciências da vida.
Assim que informações microscópicas sobre a superfície ou a região próxima da superfície de uma amostra forem necessárias, o SEM se tornará uma ferramenta necessária. Por esse motivo, o método encontra aplicações em quase todos os ramos da ciência, tecnologia e indústria.
Os modelos de SEMs de piso oferecem a flexibilidade e a versatilidade para atender a uma ampla variedade de necessidades acadêmicas e industriais: suporte para amostras grandes e pesadas, uma ampla gama de acessórios, excelente qualidade de imagem para os materiais mais desafiadores ou para os menores detalhes e experimentação dinâmica.
A Thermo Fisher Scientific dedica-se a produzir SEMs analíticos perfeitos para suas necessidades específicas. Oferecemos uma variedade de ferramentas versáteis, desde os nossos SEMs Phenom Desktop da Thermo Scientific, fáceis de usar, até instrumentos potentes com resolução e contraste incomparáveis, como o Verios SEM da Thermo Scientific.
Comparação rápida de microscópios eletrônicos de varredura de modelo de piso
| Produto | Tecnologia de colunas | Estágio | Vácuo baixo | |
|---|---|---|---|---|
| Axia ChemiSEM | Instrumento SEM EDS flexível, fácil de usar e que oferece análise elementar quantitativa instantânea | Fonte termiônica intensificada por tetrodo | 5 eixos motorizado, eucêntrico, 120 x 120 mm² | Opcional |
| Prisma E SEM | SEM ambiental adequado para uma ampla gama de aplicações | Fonte termiônica intensificada por tetrodo | 110 x 110 mm2 de 5 eixos motorizado, eucêntrico | Padrão |
| Quattro SEM | SEM ambiental de alta resolução para experiências dinâmicas in situ | Canhão de emissão de campo (FEG) | 110 x 110 mm2 de 5 eixos motorizado, eucêntrico | Padrão |
| Apreo SEM | SEM de alto desempenho versátil | FEG na lente | 110 x 110 mm2 de 5 eixos motorizado, eucêntrico | Opcional |
| Verios SEM | Máxima resolução, precisão e estabilidade de todos os SEMs da Thermo Scientific | Imersão UC FEG | 150 x 150 mm2 de 5 eixos eucêntrico motorizado, 2 eixos piezo | n/d |
| VolumeScope 2 SEM | 3D SEM para imagens de face de bloco serial de grande volume | FEG na lente | 110 x 110 mm2 de 5 eixos motorizado, eucêntrico | Padrão |
Microscópios eletrônicos de varredura de alta resolução
Para maximizar a resolução e o contraste, não basta olhar para nossos SEMs revolucionários Verios e Apreo. Esses instrumentos estão comprometidos com a obtenção de informações da forma mais detalhada possível, com o excelente contraste e resolução do Apreo SEM apenas correspondido pelo desempenho líder mundial do Verios SEM.
Microscópios eletrônicos de varredura, modelos de piso de nível básico e ambiental
Os versáteis microscópios eletrônicos de varredura Axia ChemiSEM, Prisma E e Quattro, todos da Thermo Scientific são a escolha perfeita em que a prioridade é a flexibilidade da amostra. O Axia ChemiSEM combina extrema flexibilidade de tamanho de amostra com o fluxo de trabalho de caracterização EDS mais intuitivo e eficiente disponível. Disponível na configuração tradicional de alto vácuo ou como configuração opcional de baixo vácuo, o Axia ChemiSEM é a plataforma ideal para análises de rotina e análises de falhas.
Os instrumentos Prisma E e Quattro da Thermo Scientific são capazes de proporcionar um desempenho notável em diversas condições, devido aos modos SEM ambientais (ESEM), permitindo a análise de amostras de carga, gás de saída, úmidas, quentes, sujas ou de outra forma difíceis. Alta estabilidade e facilidade de uso (além de uma seleção de acessórios opcionais e uma câmara analítica altamente modular) tornam esses instrumentos as ferramentas de escolha para laboratórios com vários usuários. Ambos os instrumentos possuem a tecnologia opcional ColorSEM da Thermo Scientific, que, em tempo real, coloriza a imagem SEM em escala de cinza de acordo com a composição elementar usando formação de imagens SEM e EDS combinadas.
Microscópios eletrônicos de varredura de mesa
A linha de produtos Phenom da Thermo Scientific redefine velocidade, facilidade de uso e desempenho graças ao seu design e software inovadores e fáceis de usar, permitindo que até mesmo usuários iniciantes obtenham uma imagem SEM em alguns minutos. E não é só isso. O Phenom Pharos SEM de última geração tem até mesmo uma fonte de canhão de emissão de campo (FEG), permitindo resoluções abaixo de 3 nm.
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The Quattro SEM is capable of imaging insulating samples without sample coating. On this glass specimen, a high-quality artifact-free image is obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Horizontal field width ~127 μm. Sample courtesy of Stazione Sperimentale del Vetro, Murano, Venezia.
SEM image of CaCu₃Ti₄O₁₂ (CCTO), a compound with an extraordinarily high dielectric constant. A high-quality SEM image was obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Sample courtesy of Ensi Caen, CRISMAT laboratory – Guillaume Riquet, Sylvain Marinel, Yohann Breard.
Corroded solder specimen colorized with ColorSEM Technology. The ability to directly see which materials the sample consists of, as well as their distribution, saves time in a variety of applications, such as failure analysis. Horizontal field width ~64 μm.
The Verios XHR SEM reveals the finest details even on the most beam sensitive samples. This example shows mesoporous SiO₂ imaged at 1 kV.
Self-catalyzed GaAs microwires imaged on Apreo. Sample courtesy of David Fuster at IMM-Instituto de Microelectrónica de Madrid (CNM-CSIC).
Documentação
The Quattro SEM is capable of imaging insulating samples without sample coating. On this glass specimen, a high-quality artifact-free image is obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Horizontal field width ~127 μm. Sample courtesy of Stazione Sperimentale del Vetro, Murano, Venezia.
SEM image of CaCu₃Ti₄O₁₂ (CCTO), a compound with an extraordinarily high dielectric constant. A high-quality SEM image was obtained thanks to the instrument’s low vacuum mode. Sample courtesy of Ensi Caen, CRISMAT laboratory – Guillaume Riquet, Sylvain Marinel, Yohann Breard.
Corroded solder specimen colorized with ColorSEM Technology. The ability to directly see which materials the sample consists of, as well as their distribution, saves time in a variety of applications, such as failure analysis. Horizontal field width ~64 μm.
The Verios XHR SEM reveals the finest details even on the most beam sensitive samples. This example shows mesoporous SiO₂ imaged at 1 kV.
Self-catalyzed GaAs microwires imaged on Apreo. Sample courtesy of David Fuster at IMM-Instituto de Microelectrónica de Madrid (CNM-CSIC).
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Serviços de microscopia eletrônica
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